光模块以及光模块的控制方法与流程

本公开涉及光模块以及光模块的控制方法,特别是涉及具备单一波长半导体激光器的光模块以及光模块的控制方法。
背景技术:
1、作为面向光通信系统的大容量化的方法之一,有数字相干通信方式。数字相干通信方式是不仅在光的强度上而且在相位上也载入信号来传输多个信道的方式。为了取出光的相位信息而使用光的干涉现象,因此发送信号的发送器的光源、接收信号的接收器中的成为干涉光的本振光均需要精密地控制波长。
2、作为这样的光源使用的就是单模激光器。
3、单模激光器以单一波长振荡,但由于制造误差及环境温度,振荡波长及光输出强度会发生变化。
4、因此,在搭载有单模激光器的数字相干通信用的光源模块内,必须具备波长控制用的波长锁定器和光强度监视器。特别是振荡波长被要求0.1nm以下的精密控制。
5、将激光的波长锁定在所希望的范围内的激光模块示于专利文献1。
6、专利文献1所示的激光模块对监视从激光器的后部端面发出的通过了透镜、分束器的光的受光元件的监视输出与透过标准具监视光的受光元件的监视输出进行比较,控制第一珀尔帖元件及第二珀尔帖元件的温度,由此将激光的波长锁定在所希望的范围内。
7、专利文献1所示的激光模块在第一珀尔帖元件的安装面安装有激光器、第三聚光透镜、第一聚光透镜、分束器、两个受光元件、热敏电阻,在第二珀尔帖元件的安装面安装有标准具。
8、专利文献1:日本特开2003-69130号公报
9、专利文献1所示的激光模块在激光器和标准具分别设置珀尔帖元件,构件件数多。
10、另外,由于使用标准具,因此需要用于对入射到标准具的光进行准直化的构件,标准具自身也需要一定程度的大小。
技术实现思路
1、本公开是鉴于上述问题而完成的,其目的在于,获得一种构件件数少且能够实现小型化的射出单一波长的光模块。
2、本公开所涉及的光模块具备:半导体激光器;光监视器,具有接收来自半导体激光器的激光的第一受光器、接收来自半导体激光器的激光的光滤波器、以及经由光滤波器接收激光的第二受光器;以及温度调节器,进行如下控制来调节半导体激光器的温度及光监视器的温度:当通过来自第一受光器的输出而得到的光功率监视值ip与通过来自第二受光器的输出而得到的波长用监视值iλ之比亦即波长监视值iλ/ip大于波长设定值时,使施加给半导体激光器及光监视器的温度上升,当波长监视值iλ/ip小于波长设定值时,使施加给半导体激光器及光监视器的温度下降。
3、根据本公开,能够对单一波长进行精密的控制,并且构件件数少,能够实现小型化。
技术特征:
1.一种光模块,其特征在于,
2.根据权利要求1所述的光模块,其特征在于,
3.根据权利要求1所述的光模块,其特征在于,
4.根据权利要求1所述的光模块,其特征在于,
5.根据权利要求1所述的光模块,其特征在于,
6.根据权利要求1所述的光模块,其特征在于,
7.根据权利要求1所述的光模块,其特征在于,
8.根据权利要求1所述的光模块,其特征在于,
9.根据权利要求1所述的光模块,其特征在于,
10.根据权利要求9所述的光模块,其特征在于,
11.根据权利要求9所述的光模块,其特征在于,
12.根据权利要求1~11中任一项所述的光模块,其特征在于,
13.根据权利要求12所述的光模块,其特征在于,
14.根据权利要求1~11中任一项所述的光模块,其特征在于,
15.根据权利要求14所述的光模块,其特征在于,
16.一种光模块的控制方法,所述光模块具备:半导体激光器;光监视器,具有接收来自所述半导体激光器的激光的第一受光器、接收来自所述半导体激光器的激光的光滤波器、以及经由所述光滤波器接收所述激光的第二受光器;以及温度调节器,对所述半导体激光器的温度及所述光监视器的温度进行调节,
17.根据权利要求16所述的光模块的控制方法,其特征在于,
18.根据权利要求17所述的光模块的控制方法,其特征在于,
19.根据权利要求17或18所述的光模块的控制方法,其特征在于,
20.根据权利要求16所述的光模块的控制方法,其特征在于,
21.根据权利要求20所述的光模块的控制方法,其特征在于,
22.根据权利要求20或21所述的光模块的控制方法,其特征在于,
技术总结
光模块具备:半导体激光器(5);光监视器(6),具有接收来自半导体激光器(5)的激光的第一受光器(63)、接收来自半导体激光器(5)的激光的光滤波器(64)及经由光滤波器(64)接收激光的第二受光器(65);以及温度调节器(2),进行如下控制来调节半导体激光器(5)的温度及光监视器的温度:当通过来自第一受光器(63)的输出而得到的光功率监视值I<subgt;p</subgt;与通过来自第二受光器(65)的输出而得到的波长用监视值I<subgt;λ</subgt;之比亦即波长监视值I<subgt;λ</subgt;/I<subgt;p</subgt;大于波长设定值时,使施加给半导体激光器(5)及光监视器(6)的温度上升,当波长监视值I<subgt;λ</subgt;/I<subgt;p</subgt;脱离波长设定值时,使施加给半导体激光器(5)及光监视器的温度变化。
技术研发人员:铃木纯一
受保护的技术使用者:三菱电机株式会社
技术研发日:
技术公布日:2024/11/28
技术研发人员:铃木纯一
技术所有人:三菱电机株式会社
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