温度调控系统、测试设备及温度调控方法与流程
技术特征：
1.温度调控系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的温度调控系统，其特征在于，所述一级调控组件(2)包括一级压缩机(21)、一级冷凝模块(22)以及经济器(23)；所述一级调控管路包括：
3.根据权利要求2所述的温度调控系统，其特征在于，所述一级调控组件(2)还包括：
4.根据权利要求3所述的温度调控系统，其特征在于，所述一级调控组件(2)还包括：
5.根据权利要求1至4中任一项所述的温度调控系统，其特征在于，所述二级调控组件(4)包括：二级压缩机(41)和二级冷凝模块(42)，所述二级调控管路包括：
6.根据权利要求5所述的温度调控系统，其特征在于，所述二级调控组件(4)还包括：
7.根据权利要求5所述的温度调控系统，其特征在于，所述二级调控组件(4)还包括：
8.根据权利要求5所述的温度调控系统，其特征在于，所述二级调控组件(4)还包括：
9.测试设备，其特征在于，包括：
10.温度调控方法，其特征在于，应用于权利要求1至8中任一项所述温度调控系统，包括：
技术总结
本发明属于温度调控技术领域，公开了温度调控系统、测试设备及温度调控方法。温度调控系统包括第一调控组件、一级调控组件、第二调控组件、二级调控组件以及换热件。第一调控组件具有液冷调控介质以对测试部件进行温度调控；一级调控组件一级调控介质以对液冷调控介质进行温度调控；第二调控组件设置于测试腔室中并能产生用于调控测试腔室温度的调控气流；二级调控组件具有流动的二级调控介质以与调控气流换热；一级调控介质与二级调控介质通过换热件换热以使得一级调控介质蒸发且二级调控介质冷却。以此该温度调控系统在使用时，仅需要一套温度调节系统，有效降低了温度调控系统整体的制造成本，从而有利于降低整个测试环节的成本。
技术研发人员：李锦辉,颜厥枝,颜厥否,陈敏
受保护的技术使用者：无锡冠亚恒温制冷技术有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/12/2
文档序号 :
【 40201170 】
技术研发人员：李锦辉,颜厥枝,颜厥否,陈敏
技术所有人：无锡冠亚恒温制冷技术有限公司
备 注：该技术已申请专利，仅供学习研究，如用于商业用途，请联系技术所有人。
声 明 ：此信息收集于网络，如果你是此专利的发明人不想本网站收录此信息请联系我们，我们会在第一时间删除
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