一种AXI总线测试激励源及其芯片功能验证方法与流程

1.一种axi总线测试激励源，其特征在于，包括参数配置模块、写操作模块以及读操作模块；

2.根据权利要求1所述的axi总线测试激励源，其特征在于，所述配置参数包括：读操作起始地址或终止地址、写操作起始地址或终止地址、连续传输长度参数、outstanding参数、读写模式参数、读写循环次数参数、写操作数据pattern设置参数以及是否进行读操作数据验证参数。

3.根据权利要求2所述的axi总线测试激励源，其特征在于，所述写操作模块包括：

4.根据权利要求3所述的axi总线测试激励源，其特征在于，所述写地址控制器还用于在检测到本次写操作的写地址操作结束后，将所述目标写id更改为占用状态，具体为：

5.根据权利要求3所述的axi总线测试激励源，其特征在于，所述写操作模块还包括：

6.根据权利要求2所述的axi总线测试激励源，其特征在于，所述读操作模块包括：

7.根据权利要求6所述的axi总线测试激励源，其特征在于，所述读操作模块还包括：

8.一种基于权利要求1-7中任一项所述的axi总线测试激励源的芯片功能验证方法，其特征在于，包括：

9.根据权利要求8所述的axi总线测试激励源的芯片功能验证方法，其特征在于，在根据读取的所述写入数据与预设写入值进行数据正确性校验之后，所述方法还包括：

10.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括处理器和存储器，所述存储器中存储有至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集，所述至少一条指令、所述至少一段程序、所述代码集或指令集由所述处理器加载并执行以实现如权利要求8或9中的axi总线测试激励源的芯片功能验证方法。