基于边缘端的可见光图像中的绝缘子检测方法
技术特征:
1.基于边缘端的可见光图像中的绝缘子检测方法,其特征在于,具体步骤如下:
2.如权利要求1所述的基于边缘端的可见光图像中的绝缘子检测方法,其特征在于,所述步骤二中,像素均值μ和方差σ的计算公式如下:
3.如权利要求1所述的基于边缘端的可见光图像中的绝缘子检测方法,其特征在于,所述步骤三中,概率pi计算公式为:
4.如权利要求1所述的基于边缘端的可见光图像中的绝缘子检测方法,其特征在于,所述步骤九中,判断条件为:
技术总结
本发明公开了基于边缘端的可见光图像中的绝缘子检测方法,属于数字图像处理领域;具体为:从可见光图像中提取待检测绝缘子图像切片,利用切片的均值和标准差进行二值化操作,得到切片中的潜在目标的质心位置;然后根据质心位置采用相对熵分离出切片中潜在目标与背景,并更新切片的二值化结果和质心点;接着根据切片的长宽比与潜在目标质心到切片中心的距离,分情况求出切片子块的质心点,根据潜在目标质心点和子块的质心点求出潜在目标的对称轴;最后求出潜在目标的长宽比和潜在目标所在的外切矩形面积,进行判定,获得最终的待定绝缘子图像切片的确认结果。本发明有效提高了绝缘子检测的准确率,降低了运算复杂度和对存储的要求。
技术研发人员:刘宇晨,谢笑阳,梁堉
受保护的技术使用者:北京工业大学
技术研发日:
技术公布日:2024/11/14
文档序号 :
【 39999294 】
技术研发人员:刘宇晨,谢笑阳,梁堉
技术所有人:北京工业大学
备 注:该技术已申请专利,仅供学习研究,如用于商业用途,请联系技术所有人。
声 明 :此信息收集于网络,如果你是此专利的发明人不想本网站收录此信息请联系我们,我们会在第一时间删除
技术研发人员:刘宇晨,谢笑阳,梁堉
技术所有人:北京工业大学
备 注:该技术已申请专利,仅供学习研究,如用于商业用途,请联系技术所有人。
声 明 :此信息收集于网络,如果你是此专利的发明人不想本网站收录此信息请联系我们,我们会在第一时间删除