一种光束比拟合法提取共聚焦曲面进行衰减系数成像方法
技术特征:
1.一种光束比拟合法提取共聚焦曲面进行衰减系数成像方法,其特征在于,包括:
2.如权利要求1所述的光束比拟合法提取共聚焦曲面进行衰减系数成像方法,其特征在于:所述基于共聚焦oct信号进行仿真建模包括基于光的单散射模型对oct信号进行建模,由一个指数衰减信号、灵敏度滚降信号、比例常数、共聚焦函数,以及乘性和加性噪声组成oct信号,样品中物理深度z处的傅里叶域oct信号表示为:
3.如权利要求2所述的光束比拟合法提取共聚焦曲面进行衰减系数成像方法,其特征在于:所述基于共聚焦oct信号进行仿真建模还包括添加snr为10的加性和乘性噪声,由两个信号相比再将焦点位置和瑞利范围作为自由参数进行拟合,拟合模型表示为:
4.如权利要求3所述的光束比拟合法提取共聚焦曲面进行衰减系数成像方法,其特征在于:所述通过改变入射光束直径改变系统共聚焦效应中的瑞利范围包括通过蒸馏水稀释20%intralipid溶液,填充在比色皿中,以10度的倾斜角放置在样品臂成像,通过样品臂调节焦平面距离样品表面的位置,同一焦深进行两次不同na的采集,通过改变na获得不同共聚焦函数的oct信号,每次采集1024张512×1024的b扫描,对中间120张b扫描进行平均。
5.如权利要求4所述的光束比拟合法提取共聚焦曲面进行衰减系数成像方法,其特征在于:所述通过改变入射光束直径改变系统共聚焦效应中的瑞利范围还包括使用扩束的方法改变na,将直径2.8mm的高斯光束扩束至5.6mm,在1310纳米光源,聚焦透镜焦距为30毫米的情况下,2.8mm直径的光束的聚焦光斑大小在17.9微米,扩大光束的直径减小聚焦光斑,提高横向分辨率至两倍,表示为:
6.如权利要求5所述的光束比拟合法提取共聚焦曲面进行衰减系数成像方法,其特征在于:所述通过不同瑞利范围的共聚焦效应进行共聚焦参数提取包括在ss-oct系统上,扫频激光光源中心波长在1310纳米,数据采集卡以100ms/s的采样速率将采集到的信号进行模数转换,并将数字化的干涉光谱暂存在数据采集卡板卡内存中;
7.如权利要求6所述的光束比拟合法提取共聚焦曲面进行衰减系数成像方法,其特征在于:所述对采集到oct数据进行共聚焦矫正包括拟合结果得到i1的焦面位置z0和表观瑞利范围zr,从而得出i1的共聚焦函数h(z),将i1(z)除以h(z)获得无共聚焦函数影响的原始oct信号,再通过深度分辨法计算衰减系数,表示为:
8.一种采用如权利要求1~7任一所述的光束比拟合法提取共聚焦曲面进行衰减系数成像方法的系统,其特征在于:包括仿真建模模块,瑞利范围更改模块,共聚焦参数提取模块,共聚焦矫正模块;
9.一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至7中任一项所述的光束比拟合法提取共聚焦曲面进行衰减系数成像方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的光束比拟合法提取共聚焦曲面进行衰减系数成像方法的步骤。
技术总结
本发明公开了一种光束比拟合法提取共聚焦曲面进行衰减系数成像方法,涉及衰减系数成像技术领域,包括基于共聚焦OCT信号进行仿真建模;通过改变入射光束直径改变系统共聚焦效应中的瑞利范围;通过不同瑞利范围的共聚焦效应进行共聚焦参数提取;对采集到OCT数据进行共聚焦矫正。本发明的有益效果:本发明提供的光束比拟合法提取共聚焦曲面进行衰减系数成像方法通过改变共聚焦函数中的瑞利范围从而构建模型提取共聚焦参数,无需移动焦面位置就能提取共聚焦参数,本发明在共聚焦参数提取精度、数据采集方便以及更易于应用至临床方面都取得更加良好的效果。
技术研发人员:莫建华,晏志龙
受保护的技术使用者:苏州大学
技术研发日:
技术公布日:2024/11/14
技术研发人员:莫建华,晏志龙
技术所有人:苏州大学
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