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NED设备检测装置及方法与流程

2025-02-03 09:40:02 752次浏览

技术特征:

1.一种近眼显示ned设备的检测装置,其特征在于,包括:至少一个第一工位和至少一个第二工位;

2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述第二测试设备在第二工位的位置与第一测试设备在第一工位的位置一致,包括:

3.根据权利要求1或2所述的装置,其特征在于,所述第一工位与第二工位的基准面一致。

4.根据权利要求1或2所述的装置,其特征在于,至少一个第一工位包括:载台和第一载台底座;

5.根据权利要求1或2所述的装置,其特征在于,至少一个第一工位包括:载台;

6.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,至少一个第二工位包括:第二载台底座;

7.一种近眼显示ned设备的检测方法,其特征在于,包括:

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述第二测试设备在第二工位的位置与第一测试设备在第一工位的位置一致,包括:

9.根据权利要求7或8所述的方法,其特征在于,所述第一工位与第二工位的基准面一致。

10.根据权利要求7或8所述的方法,其特征在于,所述第一工位和第二工位通过载台承载ned设备,通过载台或载台底座调整ned设备的姿态;所述ned设备从第一工位转移到第二工位时,被对应的载台承载同步移动。


技术总结
本申请属于设备检测领域,具体公开了一种NED设备检测装置及方法,装置包括:包括:至少一个第一工位和至少一个第二工位;第一工位,用于承载第一测试设备和待检测的NED设备,以便按照预设测试对位要求调整待检测NED设备在第一工位相对第一测试设备的姿态,获取满足该预设测试对位要求时NED设备的姿态参数;第二工位,用于承载第二测试设备和在第一工位调整姿态后的NED设备,以便按照姿态参数调整所述NED设备在第二工位的姿态,使得第二测试设备在第二工位获取姿态调整后的NED设备显示的画面,实现对NED设备的检测。通过本申请,能够提高NED设备的测试效率,减少测试时间。

技术研发人员:刘璐宁,左律,邓忠光,欧昌东
受保护的技术使用者:武汉精立电子技术有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/11/14
文档序号 : 【 40001789 】

技术研发人员:刘璐宁,左律,邓忠光,欧昌东
技术所有人:武汉精立电子技术有限公司

备 注:该技术已申请专利,仅供学习研究,如用于商业用途,请联系技术所有人。
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刘璐宁左律邓忠光欧昌东武汉精立电子技术有限公司
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