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一种垂直腔面发射激光器及其制备方法与流程

2025-05-17 14:20:02 364次浏览

技术特征:

1.一种垂直腔面发射激光器,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的垂直腔面发射激光器,其特征在于,所述缺陷抑制层的in组分的范围为0.5%-0.7%,包括端点值。

3.根据权利要求1所述的垂直腔面发射激光器,其特征在于,所述缺陷抑制层为algainp层或alinp层,所述缺陷抑制层的al组分大于20%。

4.根据权利要求1所述的垂直腔面发射激光器,其特征在于,所述缺陷抑制层的厚度范围为5nm-200nm,包括端点值。

5.根据权利要求1-4任一项所述的垂直腔面发射激光器,其特征在于,所述缺陷抑制层中掺杂有表面活性剂,所述表面活性剂的材料为sb材料或者te材料。

6.一种垂直腔面发射激光器的制备方法,其特征在于,包括:

7.根据权利要求6所述的垂直腔面发射激光器的制备方法,其特征在于,所述缺陷抑制层的in组分的范围为0.5%-0.7%,包括端点值。

8.根据权利要求6所述的垂直腔面发射激光器的制备方法,其特征在于,所述缺陷抑制层为algainp层或alinp层,所述缺陷抑制层的al组分大于20%。

9.根据权利要求6所述的垂直腔面发射激光器的制备方法,其特征在于,所述缺陷抑制层的厚度范围为5nm-200nm,包括端点值。

10.根据权利要求6-9任一项所述的垂直腔面发射激光器的制备方法,其特征在于,在形成所述缺陷抑制层时,向所述缺陷抑制层中掺杂表面活性剂,所述表面活性剂的材料为sb材料或者te材料。


技术总结
本申请公开了一种垂直腔面发射激光器及其制备方法,涉及光电器件技术领域,该垂直腔面发射激光器不再使用GaAs衬底,而使用Ge衬底,在N型Ge衬底一侧层叠设置N型DBR反射层、第一限制层、有源层、第二限制层、氧化限制层和P型DBR反射层,N型DBR反射层包括交替层叠的Al<subgt;x</subgt;GaAs层和Al<subgt;y</subgt;GaAs层,x<y。由于Ge材料比GaAs材料晶格大,与N型DBR反射层的AlGaAs材料晶格更为匹配,因此采用N型Ge衬底可以减小应力和翘曲,提高器件均匀性;并设置N型Ge衬底的晶向为100面偏111面大于等于2°,且在N型Ge衬底和N型DBR反射层之间设置缺陷抑制层来抑制反相畴缺陷。

技术研发人员:吴真龙,何剑
受保护的技术使用者:扬州乾照光电有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/11/18
文档序号 : 【 40051496 】

技术研发人员:吴真龙,何剑
技术所有人:扬州乾照光电有限公司

备 注:该技术已申请专利,仅供学习研究,如用于商业用途,请联系技术所有人。
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吴真龙何剑扬州乾照光电有限公司
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