一种测试方法、装置、存储介质及程序产品与流程

1.一种测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述一级电源系统包括一级电源、系统级芯片以及所述系统级芯片对应的应用；所述待测试对象为以下至少之一：所述一级电源、所述系统级芯片以及所述应用；所述基于所述待测试对象的测试方案，对所述待测试对象进行测试，包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述待测试对象为所述一级电源、所述系统级芯片以及所述应用中的一个，所述目标时间区间为第一时间区间、第二时间区间以及第三时间区间中与所述待测试对象对应的时间区间，所述待测试对象与所述目标时间区间对应，所述基于所述目标时间区间，对所述待测试对象进行上下电测试，得到所述域控制器的目标测试结果，包括：

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述待测试对象包括所述一级电源、所述系统级芯片以及所述应用中的多个，所述目标时间区间包括：所述第一时间区间、所述第二时间区间以及所述第三时间区间中与所述待测试对象对应的多个时间区间，所述基于所述目标时间区间，对所述待测试对象进行上下电测试，得到所述域控制器的目标测试结果，包括：

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述待测试对象包括第一对象和第二对象，所述第一对象和所述第二对象为所述一级电源、所述系统级芯片以及所述应用中的相邻的两个，所述第二对象为所述第一对象的下一级对象，所述目标时间区间包括所述第一对象对应的时间区间和所述第二对象对应的时间区间，所述基于所述目标时间区间，对所述待测试对象进行上下电测试，得到所述域控制器的目标测试结果，包括：

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测试对象为以下至少之一：所述二级电源系统、所述三级电源系统；所述基于所述待测试对象的测试方案，对所述待测试对象进行测试，包括：

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测试对象为以下至少之一：所述一级电源系统下的电源管理集成电路、所述一级电源系统下的系统基控制器，所述一级电源系统下的电源管理集成电路和所述一级电源系统下的系统基控制器均包括多个通道，所述基于所述待测试对象的测试方案，对所述待测试对象进行测试，包括：

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述待测试对象的测试方案，对所述待测试对象进行测试，包括：

9.一种测试装置，其特征在于，包括获取模块、确定模块以及测试模块；

10.一种测试装置，其特征在于，包括：

11.一种计算机可读存储介质，其特征在于，当所述计算机可读存储介质中存储的计算机执行指令由测试装置的处理器执行时，所述测试装置能够执行如权利要求1至8中任一项所述的方法。

12.一种计算机程序产品，其特征在于，计算机程序产品包括计算机指令，当计算机指令在测试装置上运行时，使得所述测试装置能够执行如权利要求1-8中任一项所述的方法。