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一种测试方法、装置、存储介质及程序产品与流程

2026-03-26 10:00:01 407次浏览
一种测试方法、装置、存储介质及程序产品与流程

本技术涉及汽车,尤其涉及汽车测试,具体涉及一种测试方法、装置、存储介质及程序产品。


背景技术:

1、在汽车包括了大量的域控制器,域控制器能够稳定工作对实现车辆的各个功能具有重要的影响。因此,需要对车辆的域控制器进行测试。

2、目前,对于域控制器的上下电测试,可以通过人工测试的方式完成。

3、但是,相关技术中基于人工进行域控制器的上下电测试,存在测试效率较低、准确率较低的问题。缺少一种可靠地针对域控制器的上下电测试的方案。


技术实现思路

1、根据本技术提供的第一方面,本技术提供一种测试方法、装置、存储介质及程序产品,以至少解决相关技术中测试效率较低、准确率较低的技术问题。本技术的技术方案如下:获取域控制器的待测试对象,该待测试对象包括以下至少之一:一级电源系统、该一级电源系统下的二级电源系统、该二级电源系统下的三级电源系统、该一级电源系统下的电源管理集成电路(power management integrated circuit,pmic)、该一级电源系统下的系统基控制器(system base controller,sbc);基于该待测试对象,确定该待测试对象的测试方案;基于该待测试对象的测试方案,对该待测试对象进行测试,得到该待测试对象的目标测试结果,该目标测试结果用于指示该待测试对象的上下电是否正常。

2、在一种可能的实施方式中,该一级电源系统包括一级电源、系统级芯片以及该系统级芯片对应的应用;该待测试对象为以下至少之一:该一级电源、该系统级芯片以及该应用;该基于该待测试对象的测试方案,对该待测试对象进行测试,包括:获取该待测试对象对应的目标时间区间;该目标时间区间包括以下至少之一:第一时间区间、第二时间区间以及第三时间区间;该第一时间区间为启动该一级电源的耗费时长;该第二时间区间用于指示该一级电源启动后启动该系统级芯片的耗费时长;该第三时间区间用于指示该系统级芯片启动后启动该应用的耗费时长;该待测试对象与该目标时间区间对应;基于该目标时间区间,对该待测试对象进行上下电测试,得到该目标测试结果。

3、在一种可能的实施方式中,该待测试对象为该一级电源、该系统级芯片以及该应用中的一个,该目标时间区间为第一时间区间、第二时间区间以及第三时间区间中与该待测试对象对应的时间区间,该待测试对象与该目标时间区间对应,该基于该目标时间区间,对该待测试对象进行上下电测试,得到该域控制器的目标测试结果,包括:向该域控制器发送第一上电指令,该第一上电指令用于触发该待测试对象上电;在发送第一上电指令的目标时间区间对应的时长后,获取该待测试对象的第一上电响应结果;对该待测试对象对应的期望响应结果与该第一上电响应结果进行比对,得到第一测试结果,该第一测试结果用于指示该待测试对象的上电是否正常。

4、在一种可能的实施方式中,该待测试对象包括该一级电源、该系统级芯片以及该应用中的多个,目标时间区间包括:第一时间区间、第二时间区间以及第三时间区间中与所述待测试对象对应的多个时间区间,该基于该目标时间区间,对该待测试对象进行上下电测试,得到该域控制器的目标测试结果,包括:向该域控制器发送第二上电指令,该第二上电指令用于触发该待测试对象中的每个对象上电;基于该目标时间区间,获取第二上电响应结果,该第二上电响应包括该待测试对象中的每个对象的上电响应结果;对该待测试对象对应的期望响应结果与该第二上电响应结果进行比对,得到第二测试结果,该第二测试结果用于指示该待测试对象的上电是否正常。

5、在一种可能的实施方式中,该待测试对象包括第一对象和第二对象,该第一对象和该第二对象为该一级电源、该系统级芯片以及该应用中的相邻的两个,该第二对象为该第一对象的下一级对象,该目标时间区间包括该第一对象对应的时间区间和该第二对象对应的时间区间,该基于该目标时间区间,对该待测试对象进行上下电测试,得到该域控制器的目标测试结果,包括:向该域控制器发送第三上电指令,该第三上电指令用于触发该第一对象和该第二对象上电;基于该目标时间区间,获取该待测试对象的第三上电响应结果,该第三上电响应结果为该第二对象对应的上电响应结果;对该待测试对象对应的期望响应结果与该第三上电响应结果进行比对,得到第三测试结果,该第三测试结果用于指示该第一对象和该第二对象的上电是否正常。

6、在一种可能的实施方式中,该待测试对象为以下至少之一:该二级电源系统、该三级电源系统;该基于该待测试对象的测试方案,对该待测试对象进行测试,包括:向该域控制器发送第四上电指令,该第四上电指令用于触发该二级电源系统和/或该三级电源系统上电;获取该待测试对象的第四上电响应结果,该第四上电响应结果包括该二级电源系统和/或该三级电源系统的上电响应结果;将该待测试对象对应的期望响应结果与该第四上电响应结果进行比对,得到第四测试结果,该第四测试结果用于指示该二级电源系统和/或该三级电源系统的上电是否正常。

7、在一种可能的实施方式中,该待测试对象为以下至少之一:该一级电源系统下的电源管理集成电路、该一级电源系统下的系统基控制器,该一级电源系统下的电源管理集成电路和该一级电源系统下的系统基控制器均包括多个通道,该基于该待测试对象的测试方案,对该待测试对象进行测试,包括:向该待测试对象发送第五上电指令,该第五上电指令用于触发该一级电源系统下的电源管理集成电路和/或该一级电源系统下的系统基控制器上电;获取该待测试对象对应的第五上电响应结果,该第五上电响应结果包括该待测试对象的每个通道的上电响应结果;将该待测试对象对应的期望响应结果与该第五上电响应结果进行比对,得到第五测试结果,该第五测试结果用于指示该电源管理集成电路和/或该系统基控制器的上电是否正常。

8、在一种可能的实施方式中,该基于该待测试对象的测试方案,对该待测试对象进行测试,包括:获取该待测试对象的目标测试次数,该目标测试次数基于该域控制器的设计使用时长确定;基于该目标测试次数对该待测试对象进行测试,得到多个测试结果,该测试结果用于指示该待测试对象上下电是否正常;基于该多个测试结果中指示该待测试对象上下电正常的测试结果的数量大于或等于数量阈值,确定该目标测试结果为第六测试结果,该第六测试结果用于指示该待测试对象上下电正常;基于该多个测试结果中指示该待测试对象上下电正常的测试结果的数量小于数量阈值,确定该目标测试结果为第七测试结果,该第七测试结果用于指示该待测试对象上下电异常。

9、根据本技术提供的第二方面,提供一种测试装置,包括:获取模块、确定模块以及测试模块;该获取模块,用于获取域控制器的待测试对象,该待测试对象包括以下至少之一:一级电源系统、该一级电源系统下的二级电源系统、该二级电源系统下的三级电源系统、该一级电源系统下的电源管理集成电路、该一级电源系统下的系统基控制器;该确定模块,用于基于该待测试对象,确定该待测试对象的测试方案;该测试模块,用于基于该待测试对象的测试方案,对该待测试对象进行测试,得到该待测试对象的目标测试结果,该目标测试结果用于指示该待测试对象的上下电是否正常。

10、在一种可能的实施方式中,该一级电源系统包括一级电源、系统级芯片以及该系统级芯片对应的应用;该待测试对象为以下至少之一:该一级电源、该系统级芯片以及该应用;该获取模块,具体用于获取该待测试对象对应的目标时间区间;该目标时间区间包括以下至少之一:第一时间区间、第二时间区间以及第三时间区间;该第一时间区间为启动该一级电源的耗费时长;该第二时间区间用于指示该一级电源启动后启动该系统级芯片的耗费时长;该第三时间区间用于指示该系统级芯片启动后启动该应用的耗费时长;该待测试对象与该目标时间区间对应;该测试模块,具体用于基于该目标时间区间,对该待测试对象进行上下电测试,得到该目标测试结果。

11、在一种可能的实施方式中,该待测试对象为该一级电源、该系统级芯片以及该应用中的一个,该目标时间区间为第一时间区间、第二时间区间以及第三时间区间中与该待测试对象对应的时间区间;该测试装置还包括发送模块;该发送模块,用于向该域控制器发送第一上电指令,该第一上电指令用于触发该待测试对象上电;该获取模块,还用于在发送第一上电指令的目标时间区间对应的时长后,获取该待测试对象的第一上电响应结果;该测试模块,具体用于对该待测试对象对应的期望响应结果与该第一上电响应结果进行比对,得到第一测试结果,该第一测试结果用于指示该待测试对象的上电是否正常。

12、在一种可能的实施方式中,该待测试对象包括该一级电源、该系统级芯片以及该应用中的多个,该目标时间区间包括:该第一时间区间、该第二时间区间一级该第三时间区间中的与该待测试对象对应的多个时间区间;该测试装置还包括发送模块;该发送模块,用于向该域控制器发送第二上电指令,该第二上电指令用于触发该待测试对象中的每个对象上电;该获取模块,还用于基于该目标时间区间,获取第二上电响应结果,该第二上电响应包括该待测试对象中的每个对象的上电响应结果;该测试模块,具体用于对该待测试对象对应的期望响应结果与该第二上电响应结果进行比对,得到第二测试结果,该第二测试结果用于指示该待测试对象的上电是否正常。

13、在一种可能的实施方式中,该待测试对象包括第一对象和第二对象,第一对象和第二对象为该一级电源、该系统级芯片以及该应用中的相邻的两个,该第二对象为第一对象的下一级对象,该目标时间区间包括该第一对象对应的时间区间和该第二对象对应的时间区间;该测试装置还包括发送模块;该发送模块,用于向该域控制器发送第三上电指令,该第三上电指令用于触发该第一对象和该第二对象上电;该获取模块,还用于基于该目标时间区间,获取该待测试对象的第三上电响应结果,该第三上电响应结果包括该第一对象对应的上电响应结果和该第二对象对应的上电响应结果;该测试模块,具体用于对该待测试对象对应的期望响应结果与该第三上电响应结果进行比对,得到第三测试结果,该第三测试结果用于指示该第一对象和该第二对象的上电是否正常。

14、在一种可能的实施方式中,该待测试对象为以下至少之一:该二级电源系统、该三级电源系统;该测试装置还包括发送模块;该发送模块,用于向该域控制器发送第四上电指令,该第四上电指令用于触发该二级电源系统和/或该三级电源系统上电;该获取模块,还用于获取该待测试对象的第四上电响应结果,该第四上电响应结果包括该二级电源系统和/或该三级电源系统的上电响应结果;该测试模块,具体用于将该待测试对象对应的期望响应结果与该第四上电响应结果进行比对,得到第四测试结果,该第四测试结果用于指示该二级电源系统和/或该三级电源系统的上电是否正常。

15、在一种可能的实施方式中,该待测试对象为以下至少之一:该一级电源系统下的电源管理集成电路、该一级电源系统下的系统基控制器,该一级电源系统下的电源管理集成电路和该一级电源系统下的系统基控制器均包括多个通道;该测试装置还包括发送模块;该发送模块,用于向该待测试对象发送第五上电指令,该第五上电指令用于触发该一级电源系统下的电源管理集成电路和/或该一级电源系统下的系统基控制器上电;该获取模块,还用于获取该待测试对象对应的第五上电响应结果,该第五上电响应结果包括该待测试对象的每个通道的上电响应结果;该测试模块,具体用于将该待测试对象对应的期望响应结果与该第五上电响应结果进行比对,得到第五测试结果,该第五测试结果用于指示该电源管理集成电路和/或该系统基控制器的上电是否正常。

16、在一种可能的实施方式中,该获取模块,还用于获取该待测试对象的目标测试次数,该目标测试次数基于该域控制器的设计使用时长确定;该测试模块,具体用于基于该目标测试次数对该待测试对象进行测试,得到多个测试结果,该测试结果用于指示该待测试对象上下电是否正常;该确定模块,还用于基于该多个测试结果中指示该待测试对象上下电正常的测试结果的数量大于或等于数量阈值,确定该目标测试结果为第六测试结果,该第六测试结果用于指示该待测试对象上下电正常;该确定模块,还用于基于该多个测试结果中指示该待测试对象上下电正常的测试结果的数量小于数量阈值,确定该目标测试结果为第七测试结果,该第七测试结果用于指示该待测试对象上下电异常。

17、根据本技术提供的第三方面,提供一种测试装置,包括:处理器;用于存储处理器可执行指令的存储器;其中,处理器被配置为执行指令,以实现上述第一方面及其任一种可能的实施方式的方法。

18、根据本技术提供的第四方面,提供一种计算机可读存储介质,当计算机可读存储介质中的指令由测试装置的处理器执行时,使得测试装置能够执行上述第一方面中及其任一种可能的实施方式的方法。

19、根据本技术提供的第五方面,提供一种计算机程序产品,计算机程序产品包括计算机指令,当计算机指令在测试装置上运行时,使得测试装置执行上述第一方面及其任一种可能的实施方式的方法。

20、由此,本技术的上述技术特征具有以下有益效果:

21、(1)通过对不同的待测试对象采用不同的测试方案,能够准确可靠地确定出域控制器的上下电测试结果。

22、(2)目标时间区间能够指示待测试对象中的每个对象启动所耗费的时长,因此,基于目标时间区间,对待测试对象进行上下电测试,能够准确、可靠地得到目标测试结果。

23、(3)通过向域控制器发送第一上电指令;在发送第一上电指令的目标时间区间对应的时长后,获取待测试对象的第一上电响应结果;对待测试对象对应的期望响应结果与第一上电响应结果进行比对,得到第一测试结果。如此,能够准确、可靠地得到待测试对象为一级电源、系统级芯片以及应用中的一个的情况下,待测试对象的上电测试结果,完成对待测试对象的上电测试。

24、(4)向域控制器发送第二上电指令;基于目标时间区间,获取第二上电响应结果;对待测试对象对应的期望响应结果与第二上电响应结果进行比对,得到第二测试结果。由于第二上电指令用于触发待测试对象中的每个对象上电,第二测试结果用于指示待测试对象的上电是否正常,因此,能够准确、可靠地得到,在待测试对象包括一级电源、系统级芯片以及应用中的多个的情况下,待测试对象的上电测试结果,完成对待测试对象的上电测试。

25、(5)向域控制器发送第三上电指令;基于目标时间区间,获取待测试对象的第三上电响应结果;对待测试对象对应的期望响应结果与第三上电响应结果进行比对,得到第三测试结果。由于第三上电指令用于触发第一对象和第二对象上电,第三上电响应结果为第二对象对应的上电响应结果;因此,能够准确可靠地,确定出,在待测试对象包括第一对象和第二对象,第一对象和第二对象为一级电源、系统级芯片以及应用中的相邻的两个,第二对象为第一对象的下一级对象的情况下,待测试对象的上电结果,从而完成对待测试对象的上电测试。

26、(6)通过第四上电指令和第四上电响应结果,能够准确可靠地确定出二级电源系统和/或三级电源系统的上电是否正常。

27、(7)通过第五上电指令、第五上电响应结果,能够准确、可靠地确定出在待测试对象为电源管理集成电路和/或系统基控制器的情况下,待测试对象的测试结果。

28、(8)多个测试结果中指示待测试对象上下电正常的测试结果的数量大于或等于数量阈值,说明待测试对象的上下电的可靠性较强,能够满足用户使用需求,此时,确定目标测试结果为第六测试结果。多个测试结果中指示待测试对象上下电正常的测试结果的数量小于数量阈值,说明待测试对象的上下电的可靠性较差,不能够满足用户使用需求,此时,确定目标测试结果为第七测试结果。如此,通过测试次数能够更加准确、可靠地确定出域控制器是否能够满足与其设计使用寿命对应的上下电需求。

29、需要说明的是,第二方面至第五方面中的任一种实现方式所带来的技术效果可参见第一方面中对应实现方式所带来的技术效果,此处不再赘述。

30、应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本技术。

文档序号 : 【 40280841 】

技术研发人员:田池贤
技术所有人:重庆长安科技有限责任公司

备 注:该技术已申请专利,仅供学习研究,如用于商业用途,请联系技术所有人。
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田池贤重庆长安科技有限责任公司
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