基于高光谱成像技术的绝缘子表面污秽状态分析系统及方法与流程

1.基于高光谱成像技术的绝缘子表面污秽状态分析系统，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的基于高光谱成像技术的绝缘子表面污秽状态分析系统，其特征在于：所述地理位置权重计算模块利用gis系统确定绝缘子的地理位置坐标（x1，y1），根据当地工厂位置信息及污染物排放数据库确定污染源的排放特征和位置坐标（x2，y2）。

3.如权利要求2所述的基于高光谱成像技术的绝缘子表面污秽状态分析系统，其特征在于：所述地理位置权重计算模块采用欧式距离计算绝缘子与污染源之间的直线距离。

4.如权利要求3所述的基于高光谱成像技术的绝缘子表面污秽状态分析系统，其特征在于：所述地理位置权重计算模块考虑地形地貌因素对距离的修正，引入地形影响因子fterrain，实际有效距离变为d=d×fterrain，对于河流等水体，引入水流影响因子fwater，实际有效距离变为d=d/fwater。

5.如权利要求4所述的基于高光谱成像技术的绝缘子表面污秽状态分析系统，其特征在于：所述地理位置权重计算模块根据污染源类型对排放强度进行修正，原排放强度e乘以修正系数ctype得到eadjusted=e×ctype，考虑时间因素影响，引入时间函数g(t)，最终排放强度efinal=e×ctype×g(t)。

6.如权利要求5所述的基于高光谱成像技术的绝缘子表面污秽状态分析系统，其特征在于：所述地理位置权重计算模块的权重计算公式为，其中k为调整系数。

7.如权利要求6所述的基于高光谱成像技术的绝缘子表面污秽状态分析系统，其特征在于：所述绝缘子材质权重计算模块的计算包括：建立层次结构、构建模糊判断矩阵和计算权重向量，所述建立层次结构包括：

8.如权利要求7所述的基于高光谱成像技术的绝缘子表面污秽状态分析系统，其特征在于：所述构建模糊判断矩阵通过邀请专家对不同绝缘子材质在每个准则下进行两两比较，给出模糊判断值，采用三角模糊数（l，m，u）表示，构建模糊矩阵a=（aij），对于模糊判断矩阵的每行元素，计算其几何平均值，对计算得到的几何平均值进行归一化处理，即将每个几何平均值除以所有几何平均值之和，得到权重向量，几何平均值计算公式为：。

9.如权利要求8所述的基于高光谱成像技术的绝缘子表面污秽状态分析系统，其特征在于：几何平均值进行归一化处理得到的权重向量，综合权重计算步骤为：设对于k个准则，第i种材质在第j个准则下的权重为wij，第j个准则的重要性权重为，则综合权重为。

10.如权利要求9所述的基于高光谱成像技术的绝缘子表面污秽状态分析系统，其特征在于：所述综合权重计算单元对温湿度数据权重计算模块、地理位置权重计算模块和绝缘子材质权重计算模块计算的权重进行整体计算，其计算公式为，、和分别是温湿度数据权重、地理位置权重和绝缘子材质权重的分配系数，且，最终通过绝缘子初步检测单元计算的绝缘子表面污秽程度数值与综合权重计算单元计算的权重相乘，得到最终的绝缘子污秽程度数值，根据数值确定污秽状态并判断是否需要进行清洗或更换。