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芯片辅助开发方法、装置、存储介质及设备与流程

2026-05-16 15:00:07 19次浏览
芯片辅助开发方法、装置、存储介质及设备与流程

本发明涉及芯片开发领域,具体涉及一种芯片辅助开发方法、装置、存储介质及设备。


背景技术:

1、近年来,人工智能技术已经被广泛的应用在各个领域,例如人脸识别、目标检测、自动驾驶等,与人们的生活息息相关。

2、随着技术的进一步发展,人工智能技术对计算能力的要求也在进一步的提升,因此,不同种类、不同算力、不同应用场景的芯片也在应运而生,例如:图形处理器(graphicsprocessing unit,gpu),神经网络处理器(neural network processing unit,npu),张量处理器(tensor processing unit,tpu)等。

3、但是,芯片的应用场景多变、功能复杂、设计难度大,在设计芯片时,受元器件功耗、面积等因素影响,芯片的性能只能在固定面积和限定功耗的条件下,去设计算力、带宽以及功能模块。为了平衡这些因素,设计出最合理的芯片参数,需要芯片设计者花费大量的人力物力进行模拟实验才能得到,导致芯片设计周期较长。


技术实现思路

1、本发明要解决的问题是:缩短芯片设计周期。

2、为解决上述问题,本发明实施例提供了一种芯片辅助开发方法,所述方法包括:

3、获取芯片设定的计算功能;

4、获取所述芯片的计算功能参数模版,所述计算功能参数模版包括:与执行所述计算功能相关的配置参数以及各配置参数对应的取值信息;

5、模拟所述计算功能在所述计算功能参数模版上的运行逻辑,得到芯片模拟运行性能结果;

6、利用预设芯片性能评估标准,对所述芯片模拟运行性能结果进行筛选,得到满足所述芯片性能评估标准的配置参数组合,作为所述芯片的最终设计参数模版。

7、在一种可能的实施例中,所述方法还包括:

8、获取芯片性能评估标准,所述芯片性能评估标准包括:最佳芯片性能参数的取值区间。

9、在一种可能的实施例中,所述获取所述计算功能对应的计算功能参数模版,包括:

10、获取所述计算功能对应的两个以上第一计算功能参数模版,每个所述第一计算功能模版包括:与执行所述计算功能相关的配置参数标识信息以及各配置参数对应的唯一取值信息。

11、在一种可能的实施例中,所述模拟所述计算功能在所述计算功能参数模版上的运行逻辑,得到芯片模拟运行性能结果,包括:

12、遍历各个所述第一计算功能参数模版,模拟所述计算功能在各个第一计算功能参数模版上的运行逻辑,得到与各个所述第一计算功能参数模版分别对应的模拟运行性能结果。

13、在一种可能的实施例中,所述获取所述计算功能对应的计算功能参数模版,包括:

14、获取所述计算功能对应的一第二计算功能参数模版,所述第二计算功能模版包括:与执行所述计算功能相关的配置参数标识信息以及各配置参数对应的取值区间信息。

15、在一种可能的实施例中,所述模拟所述计算功能在所述计算功能参数模版上的运行逻辑,得到芯片模拟运行性能结果,包括:

16、遍历所述第二计算功能参数模版上各个配置参数的取值区间,得到第二计算功能参数模版上每种配置参数组合对应的模拟运行性能结果。

17、在一种可能的实施例中,所述模拟所述计算功能在所述计算功能参数模版上的运行逻辑,得到芯片模拟运行性能结果,包括:

18、采用二分查找算法,对所述第二计算功能参数模版上各个配置参数的取值进行搜索,得到每次搜索结果对应的芯片模拟运行性能结果。

19、在一种可能的实施例中,所述芯片性能评估标准包括以下至少一种:

20、所述芯片mac算力利用率的取值区间;

21、所述芯片总功耗的取值区间。

22、在一种可能的实施例中,所述与执行所述计算功能相关的配置参数,包括:

23、芯片的dram大小、sram大小、dram带宽、sram带宽、mac算力、dram功耗、sram功耗以及mac计算单元功耗。

24、本发明实施例还提供了一种芯片辅助开发装置,所述装置包括:

25、第一获取单元,适于获取芯片设定的计算功能;

26、第二获取单元,适于获取所述计算功能对应的计算功能参数模版,所述计算功能参数模版包括:与执行所述计算功能相关的配置参数以及各配置参数对应的取值信息;

27、模拟单元,适于模拟所述计算功能在所述计算功能参数模版上的运行逻辑,得到芯片模拟运行性能结果;

28、筛选单元,适于利用预设芯片性能评估标准,对所述芯片模拟运行性能结果进行筛选,得到满足所述芯片性能评估标准的配置参数组合,作为所述计算功能的最终设计参数模版。

29、在一种可能的实施例中,所述装置还包括:

30、第三获取单元,适于获取芯片性能评估标准,所述芯片性能评估标准包括:最佳芯片性能参数的取值区间。

31、本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行,以实现上述任一种所述方法的步骤。

32、本发明实施例还提供了一种电子设备,包括存储器和处理器,所述存储器上存储有能够在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器运行所述计算机程序时执行上述任一种所述方法的步骤。

33、与现有技术相比,本发明实施例的技术方案具有以下优点:

34、应用本发明的方案,通过获取芯片设定的计算功能以及对应的计算功能参数模版,并模拟计算功能在所述计算功能参数模版上的运行逻辑,得到芯片模拟运行性能结果,从而利用预设芯片性能评估标准,对所述芯片模拟运行性能结果进行筛选,得到满足所述芯片性能评估标准的配置参数组合,最终得到芯片设定的计算功能的最终设计参数模版,而无需人工通过大量实验来得到最终设计参数模版,从而可以快速得到最终设计参数模版,不仅减小了人工工作量,缩短芯片设计周期,提高芯片设计效率,而且可以降低最终设计参数模版的获取难度。并且,采用本发明的方案,即便芯片设定的计算功能及计算功能参数模版变化,也能够得到最终设计参数模版,由此可以动态地适应不同的应用场景,通用性更好。



技术特征:

1.一种芯片辅助开发方法,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的芯片辅助开发方法,其特征在于,还包括:

3.如权利要求1所述的芯片辅助开发方法,其特征在于,所述获取所述计算功能对应的计算功能参数模版,包括:

4.如权利要求3所述的芯片辅助开发方法,其特征在于,所述模拟所述计算功能在所述计算功能参数模版上的运行逻辑,得到芯片模拟运行性能结果,包括:

5.如权利要求1所述的芯片辅助开发方法,其特征在于,所述获取所述计算功能对应的计算功能参数模版,包括:

6.如权利要求5所述的芯片辅助开发方法,其特征在于,所述模拟所述计算功能在所述计算功能参数模版上的运行逻辑,得到芯片模拟运行性能结果,包括:

7.如权利要求5所述的芯片辅助开发方法,其特征在于,所述模拟所述计算功能在所述计算功能参数模版上的运行逻辑,得到芯片模拟运行性能结果,包括:

8.如权利要求1所述的芯片辅助开发方法,其特征在于,所述芯片性能评估标准包括以下至少一种:

9.如权利要求1所述的芯片辅助开发方法,其特征在于,所述与执行所述计算功能相关的配置参数,包括:

10.一种芯片辅助开发装置,其特征在于,包括:

11.如权利要求10所述的芯片辅助开发装置,其特征在于,还包括:

12.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行,以实现权利要求1至9任一项所述方法的步骤。

13.一种电子设备,包括存储器和处理器,所述存储器上存储有能够在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器运行所述计算机程序时执行权利要求1至9任一项所述方法的步骤。


技术总结
一种芯片辅助开发方法、装置、存储介质及设备。所述方法包括:获取芯片设定的计算功能;获取所述芯片的计算功能参数模版,所述计算功能参数模版包括:与执行所述计算功能相关的配置参数标识信息以及各配置参数对应的取值信息;模拟所述计算功能在所述计算功能参数模版上的运行逻辑,得到芯片模拟运行性能结果;利用预设芯片性能评估标准,对所述芯片模拟运行性能结果进行筛选,得到满足所述芯片性能评估标准的配置参数组合,作为所述芯片的最终设计参数模版。采用上述方案,可以缩短芯片设计周期,提高芯片设计效率。

技术研发人员:黄金磊
受保护的技术使用者:上海芯高峰微电子有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/11/28
文档序号 : 【 40163884 】

技术研发人员:黄金磊
技术所有人:上海芯高峰微电子有限公司

备 注:该技术已申请专利,仅供学习研究,如用于商业用途,请联系技术所有人。
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