一种内存条测试设备的制作方法

本发明涉及内存条测试，具体是一种内存条测试设备。

背景技术：

1、在电子产品的开发与生产过程中，内存条测试是确保产品质量和稳定性的关键环节，其中，温度是影响内存条运行性能的重要因素之一，故检测内存条在不同温度下的运行状态是内存测试重要内容。

2、当前，对内存条控温测试时，需要人手频繁在测试主板上插拔内存条，由于人手插拔内存条需要较大的力度，大量的插拔工作会导致测试人员手部酸疼，并且，人手插拔内存条由于个人习惯、手部力量控制等因素差异往往导致力度分布不均，容易造成内存条的金手指或插槽的触点受损，同时，内存条控温测试大都采用整体加热的方式，即通过加热单元对整个插装有内存条的主板区域进行加热，由于不同位置的热传导效率差异、散热条件差异以及内存条布局的差异，导致在实际测试过程中，不同内存条所处的温度环境往往存在显著差异，影响了测试的准确性，使得测试结果难以真实反映内存条在不同温度条件下的性能表现，另外，内存条还需进行常温测试，进行常温测试时，又需要借助风扇设备进行吹风降温，操作起来较为麻烦，进而影响内存条测试效率。

3、因此，本发明提出一种内存条测试设备来解决上述问题。

技术实现思路

1、本发明的实施例目的在于提供一种内存条测试设备，以解决上述问题。

2、为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

3、一种内存条测试设备，包括底板、测试主机、设于底板上的测试主板以及用于提供温度条件的控温组件，所述底板上设有与测试主板适配的且覆压在测试主板上的覆压板，所述覆压板位于测试主板插槽区域两侧位置处均设有适配的插拔器，且同一个插槽区域对应的两个插拔器对称设置，所述插拔器包括卡扣座以及若干个间隔排列设于卡扣座上用于卡住内存条端部的卡扣，所述卡扣数量与对应插槽区域插槽数适配，且每个卡扣均可偏转移动；

4、所述测试设备还包括可移动至插拔器上方的架体，所述控温组件可升降式设于架体上，所述控温组件包括用于罩住测试主板整体的罩壳，所述罩壳分隔为若干个与测试主板插槽区域一一对应且适配的控温区，每个所述控温区中均设有适配的栅格式加热部件，用于分隔独立加热内存条，每个所述控温区两侧均分别设有若干个可切换工位的风扇以及若干个温度传感器。

5、在一种可选方案中：所述卡扣包括扣体，所述扣体两侧分别为与内存条端部定位口适配的卡位部以及用于手触以拨动卡扣的拨动部，所述扣体上设有腰孔，所述卡扣座上设有轴径与腰孔宽度一致的限位轴，且限位轴穿过所有卡扣上的腰孔。

6、在一种可选方案中：所述卡扣座呈长条状，且卡扣座上设有与卡扣一一对应的安装格，用于安装所述卡扣，所述限位轴穿过所有安装格。

7、在一种可选方案中：所述扣体底部远离卡位部的一侧圆弧过渡。

8、在一种可选方案中：所述栅格式加热部件包括导热基板以及若干个等距设于导热基板上的电热件，所述导热基板两侧分别均匀布设有散热翅片以及加热翅片，其中加热翅片数量为对应插槽区域插槽数量加一，每相邻的两个所述加热翅片之间空间为控温格，用于在测试时容纳内存条，每个所述控温区两侧与每个控温格对应的位置均排列设有多个透风孔。

9、在一种可选方案中：所述罩壳上设有可移动切换工位的支架，多个所述风扇均设于支架上。

10、在一种可选方案中：所述底板上设有用于实现架体移动至插拔器上方的第一驱动组件，所述架体上设有用于实现控温组件升降的第二驱动组件，所述罩壳上设有用于实现支架移动以带动多个风扇切换工位的第三驱动组件。

11、在一种可选方案中：所述测试设备还包括用于对测试主板进行冷却的液冷组件，避免测试主板温度过高。

12、相较于现有技术，本发明实施例的有益效果如下：

13、1、插装内存条时，将内存条金手指一侧轻放于对应的插槽上，此时，内存条处于两个卡扣之间，然后测试人员双手分别将对应的两个卡扣均朝内存条方向偏转移动从而将内存条两端分别卡住，维持此状态，继续朝内存条方向偏转移动两个卡扣从而给予内存条向下力，实现将内存条插装到位，拆卸内存条时，反向操作及施力即可，操作简单，使用方便，既解决了测试人员徒手频繁插拔内存条导致手部酸疼问题，又能够使得内存条插拔力度均衡，避免内存条、插槽受损；

14、2、控温测试时，罩壳将测试主板整体罩住，同时每个控温区将测试主板上对应的插槽区域分隔开，避免热量窜流干扰，通过栅格式加热部件分隔独立加热内存条，通过风扇产生气流流经控温区带走热量实现降温，分隔式控温测试，避免热量传递干扰，使得每根内存条均处于相同的温度条件下，保证测试的准确性；

15、3、对内存条进行常温测试时(使得测试温度低于环境温度)，提供两种测试方式，一种是罩壳将插有待测试内存条的测试主板整体罩住，电热件保持关闭，通过风扇产生气流流经控温区实现降温，另一种是罩壳不罩住测试主板整体，每个控温区对应的风扇下移至常温工位(与控温区错开)，对测试主板整体吹风实现降温，操作简单，使用方便，有效提高内存条测试效率；

16、4、风扇下移至常温工位时，还可用于对内存条吹风降温加速其冷却，减少冷却耗时。

17、应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本申请。

1.一种内存条测试设备，包括底板(1)、测试主机、设于底板(1)上的测试主板(3)以及用于提供温度条件的控温组件(6)，其特征在于，所述底板(1)上设有与测试主板(3)适配的且覆压在测试主板(3)上的覆压板(2)，所述覆压板(2)位于测试主板(3)插槽区域两侧位置处均设有适配的插拔器(4)，且同一个插槽区域对应的两个插拔器(4)对称设置，所述插拔器(4)包括卡扣座(401)以及若干个间隔排列设于卡扣座(401)上用于卡住内存条端部的卡扣(403)，所述卡扣(403)数量与对应插槽区域插槽数适配，且每个卡扣(403)均可偏转移动；

2.根据权利要求1所述的内存条测试设备，其特征在于，所述卡扣(403)包括扣体(4031)，所述扣体(4031)两侧分别为与内存条端部定位口适配的卡位部(4033)以及用于手触以拨动卡扣(403)的拨动部(4034)，所述扣体(4031)上设有腰孔(4032)，所述卡扣座(401)上设有轴径与腰孔(4032)宽度一致的限位轴(404)，且限位轴(404)穿过所有卡扣(403)上的腰孔(4032)。

3.根据权利要求2所述的内存条测试设备，其特征在于，所述卡扣座(401)呈条状，且卡扣座(401)上设有与卡扣(403)一一对应的安装格(402)，用于安装所述卡扣(403)，所述限位轴(404)穿过所有安装格(402)。

4.根据权利要求2所述的内存条测试设备，其特征在于，所述扣体(4031)底部远离卡位部(4033)的一侧圆弧过渡。

5.根据权利要求1所述的内存条测试设备，其特征在于，所述栅格式加热部件(609)包括导热基板(6091)以及若干个等距设于导热基板(6091)上的电热件(6093)，所述导热基板(6091)两侧分别均匀布设有散热翅片(6092)以及加热翅片(6094)，其中加热翅片(6094)数量为对应插槽区域插槽数量加一，每相邻的两个所述加热翅片(6094)之间空间为控温格(6095)，用于在测试时容纳内存条，每个所述控温区(608)两侧与每个控温格(6095)对应的位置均排列设有多个透风孔(610)。

6.根据权利要求1所述的内存条测试设备，其特征在于，所述罩壳(601)上设有可移动切换工位的支架(602)，多个所述风扇(603)均设于支架(602)上。

7.根据权利要求6所述的内存条测试设备，其特征在于，所述底板(1)上设有用于实现架体(5)移动至插拔器(4)上方的第一驱动组件，所述架体(5)上设有用于实现控温组件(6)升降的第二驱动组件，所述罩壳(601)上设有用于实现支架(602)移动以带动多个风扇(603)切换工位的第三驱动组件。

8.根据权利要求1所述的内存条测试设备，其特征在于，所述测试设备还包括用于对测试主板(3)进行冷却的液冷组件(7)，避免测试主板(3)温度过高。