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用于透明基板平台的标定方法、透明基板翘曲检测方法与流程

2026-03-13 17:00:07 155次浏览

技术特征:

1.一种用于透明基板平台的标定方法,其特征在于,用于在进行透明基板曲翘度检测前对承载透明基板的平台表面的平台基准面进行标定,包括:

2.根据权利要求1所述的一种用于透明基板平台的标定方法,其特征在于,v为8,8个所述旁测量点中,其中四个所述旁测量点分别以所述中心测量点中心对称分布在以所述中心测量点为原点的坐标系的x轴和y轴上,另外四个所述旁测量点分别位于以所述中心测量点为原点的坐标系的四个象限中。

3.根据权利要求2所述的一种用于透明基板平台的标定方法,其特征在于,依次将8个所述旁测量点连接所形成的形状为矩形或者正方形。

4.根据权利要求2或3所述的一种用于透明基板平台的标定方法,其特征在于,所述旁测量点到所述中心测量点的距离范围为(0,1],距离单位为毫米。

5.一种透明基板翘曲检测方法,其特征在于,包括:

6.根据权利要求5所述的一种透明基板翘曲检测方法,其特征在于,位于所述透明基板4个角区域的测量中心点的获取方式为:

7.根据权利要求5所述的一种透明基板翘曲检测方法,其特征在于,所述第一产品实际高度值的具体公式为:

8.根据权利要求5所述的一种透明基板翘曲检测方法,其特征在于,q7中,针对某一个角区域的测量中心点,所述约束条件为:

9.根据权利要求5所述的一种透明基板翘曲检测方法,其特征在于,q8中,所述预设算法为:

10.根据权利要求5所述的一种透明基板翘曲检测方法,其特征在于,当所述第一边和第三边为所述透明基板的长边时,若位于所述第一边的三个测量中心点的检测高度值和位于所述第三边的三个测量中心点的检测高度值均大于位于第二边和第四边的中心位置的两个测量中心点,则判定所述透明基板为前后笑脸;若位于所述第一边的三个测量中心点的检测高度值和位于所述第三边的三个测量中心点的检测高度值均小于位于第二边和第四边的中心位置的两个测量中心点,则判定所述透明基板为前后哭脸;当所述第一边和第三边为所述透明基板的短边时,若位于所述第一边的三个测量中心点的检测高度值和位于所述第三边的三个测量中心点的检测高度值均大于位于第二边和第四边的中心位置的两个测量中心点,则判定所述透明基板为左右笑脸;若位于所述第一边的三个测量中心点的检测高度值和位于所述第三边的三个测量中心点的检测高度值均小于位于第二边和第四边的中心位置的两个测量中心点,则判定所述透明基板为左右哭脸。


技术总结
本发明涉及属于集成电路行业先进封装测试技术领域,公开了一种用于透明基板平台的标定方法、透明基板翘曲检测方法,用于在进行透明基板曲翘度检测前对承载透明基板的平台表面的平台基准面进行标定,包括:S1、定义测量仪基准面;S2、定义需要检测的所述平台的中心测量点,并通过测量仪测量所述中心测量点的第一平台测量高度值;S3、通过测量仪依次测量围绕所述中心测量点V个方向的旁测量点的第二平台测量高度值;S4、将V个第二平台测量高度值和第一平台测量高度值进行算术平均得到的平台高度平均值作为该中心测量点所在平台的平台基准面到测量仪基准面的高度值。本发明提供了的方法,能够准确的检测出玻璃基板翘曲情况。

技术研发人员:尹华聪,刘家伟,黄波,杨玉梅,王盼,刘中,张勇
受保护的技术使用者:成都新西旺自动化科技有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/11/26
文档序号 : 【 40123801 】

技术研发人员:尹华聪,刘家伟,黄波,杨玉梅,王盼,刘中,张勇
技术所有人:成都新西旺自动化科技有限公司

备 注:该技术已申请专利,仅供学习研究,如用于商业用途,请联系技术所有人。
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尹华聪刘家伟黄波杨玉梅王盼刘中张勇成都新西旺自动化科技有限公司
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