一种O型圈的尺寸高精度测量方法及系统与流程

1.一种o型圈的尺寸高精度测量方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

2.如权利要求1所述的一种o型圈的尺寸高精度测量方法，其特征在于，所述o型圈上每个扫描点的各回波包络的包络相似度的确定方法为：

3.如权利要求1所述的一种o型圈的尺寸高精度测量方法，其特征在于，所述o型圈上每个扫描点的各回波包络的回波置信度的确定方法为：

4.如权利要求3所述的一种o型圈的尺寸高精度测量方法，其特征在于，所述o型圈上每个扫描的各回波包络的基频偏差度为o型圈上每个扫描点的各回波包络的基频与超声脉冲信号的频率的差值取绝对值。

5.如权利要求1所述的一种o型圈的尺寸高精度测量方法，其特征在于，所述o型圈上每个扫描点的各回波包络的包络评价因子的确定方法为：

6.如权利要求5所述的一种o型圈的尺寸高精度测量方法，其特征在于，所述o型圈上每个扫描点的各回波包络的回波时间差异的表达式为：式中，表示o型圈上第i个扫描点的第j个回波包络的回波时间差异；表示o型圈上第i个扫描点与第k个扫描点在第j个回波包络上对应时间区间的交并比；n表示o型圈上所有扫描点的数量；γ为大于0的预设常数。

7.如权利要求1所述的一种o型圈的尺寸高精度测量方法，其特征在于，所述o型圈上每个扫描点的截径的确定方法为：

8.如权利要求7所述的一种o型圈的尺寸高精度测量方法，其特征在于，所述o型圈上每个扫描点的超声飞行时间的确定方法为：

9.如权利要求1所述的一种o型圈的尺寸高精度测量方法，其特征在于，所述对o型圈的尺寸进行测量，包括：

10.一种o型圈的尺寸高精度测量系统，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-9任意一项所述一种o型圈的尺寸高精度测量方法的步骤。