一种高分子PE薄膜表面晶点检测方法及系统与流程
技术特征：
1.一种高分子pe薄膜表面晶点检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种高分子pe薄膜表面晶点检测方法，其特征在于，所述预处理包括：
3.根据权利要求2所述的一种高分子pe薄膜表面晶点检测方法，其特征在于，所述基于动态因子的残差高斯滤波的具体公式表示为：
4.根据权利要求1所述的一种高分子pe薄膜表面晶点检测方法，其特征在于，所述基于晶点特征增强的晶点检测模型包括：输入层、多尺度特征图提取层、晶点特征增强模块、特征融合层和特征向量输出层；
5.根据权利要求1所述的一种高分子pe薄膜表面晶点检测方法，其特征在于，所述晶点检测值的具体实现过程包括：
6.一种高分子pe薄膜表面晶点检测系统，其特征在于，包括：设备控制模块、图像采集模块、图像处理模块、晶点检测模块和输出模块；其中，所述设备控制模块用于控制设备的启动、暂停和停止；所述图像采集模块用于通过显微摄像头获取pe薄膜表面的晶点图像；所述图像处理模块用于对获取的晶点图像进行预处理，得到预处理图像；所述晶点检测模块用于对预处理的晶点图像进行检测，得到晶点检测值；所述输出模块包括显示单元和反馈单元；所述显示单元用于显示pe薄膜表面晶点的检测结果；所述反馈单元用于根据所述检测结果向工作人员进行反馈。
7.根据权利要求6所述的一种高分子pe薄膜表面晶点检测系统，其特征在于，所述图像处理模块的具体实现过程包括：
8.根据权利要求7所述的一种高分子pe薄膜表面晶点检测系统，其特征在于，所述基于动态因子的残差高斯滤波的具体公式表示为：
9.根据权利要求6所述的一种高分子pe薄膜表面晶点检测系统，其特征在于，所述晶点检测模块是基于晶点特征增强的晶点检测模型，包括：输入层、多尺度特征图提取层、晶点特征增强模块、特征融合层和特征向量输出层；
10.根据权利要求6所述的一种高分子pe薄膜表面晶点检测系统，其特征在于，所述晶点检测值的具体实现过程包括：
技术总结
本发明涉及PE薄膜技术领域，具体为一种高分子PE薄膜表面晶点检测方法及系统。首先，使用显微摄像头采集PE薄膜表面的晶点图像；其次，对采集到的晶点图像进行预处理操作，使用基于动态因子的残差高斯滤波进行去噪，有效提高了模型对晶点特征的检测能力；然后，提出了一个基于晶点特征增强的晶点检测模型，该模型通过提取晶点多尺度特征，引入了晶点特征增强模块来增强晶点特征，提高了晶点检测模型的检测性能；最后，提出了一个晶点检测功能，该功能通过不同晶点特征的综合评估值对高分子PE薄膜的质量进行评估，有效对PE薄膜的质量进行监督。
技术研发人员：刘竞成,姜道楠
受保护的技术使用者：刘竞成
技术研发日：
技术公布日：2024/11/26
技术研发人员：刘竞成,姜道楠
技术所有人：刘竞成
备 注：该技术已申请专利，仅供学习研究，如用于商业用途，请联系技术所有人。
声 明 ：此信息收集于网络，如果你是此专利的发明人不想本网站收录此信息请联系我们，我们会在第一时间删除