首页  专利技术  电子电路装置的制造及其应用技术

基于加速自适应步长机制的对抗样本生成方法及系统

2025-09-03 10:00:07 508次浏览

技术特征:

1.基于加速自适应步长机制的对抗样本生成方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的基于加速自适应步长机制的对抗样本生成方法,其特征在于,所述步骤一还包括:初始化一阶矩和二阶矩均为0。

3.根据权利要求1所述的基于加速自适应步长机制的对抗样本生成方法,其特征在于,所述根据第二对抗样本计算当前的梯度,公式如下:

4.根据权利要求3所述的基于加速自适应步长机制的对抗样本生成方法,其特征在于,所述根据当前的梯度以及上一次迭代过程中的一阶矩计算当前一阶矩,根据当前的梯度以及上一次迭代过程中的二阶矩计算当前二阶矩,公式如下:

5.根据权利要求4所述的基于加速自适应步长机制的对抗样本生成方法,其特征在于,所述利用当前一阶矩以及当前二阶矩更新当前的梯度,得到当前的梯度修正值,公式如下:

6.根据权利要求5所述的基于加速自适应步长机制的对抗样本生成方法,其特征在于,所述步骤四包括:

7.根据权利要求6所述的基于加速自适应步长机制的对抗样本生成方法,其特征在于,所述步骤五包括:

8.基于加速自适应步长机制的对抗样本生成系统,其特征在于,包括:

9.根据权利要求8所述的基于加速自适应步长机制的对抗样本生成系统,其特征在于,所述初始化模块还用于:初始化一阶矩和二阶矩均为0。

10.根据权利要求8所述的基于加速自适应步长机制的对抗样本生成系统,其特征在于,所述根据第二对抗样本计算当前的梯度,公式如下:


技术总结
本发明公开了基于加速自适应步长机制的对抗样本生成方法及系统,方法包括:步骤一、初始化参数;步骤二、判断是否达到迭代次数,若是,执行步骤六,若否,执行步骤三;步骤三、根据第二对抗样本计算当前的梯度,计算当前一阶矩、当前二阶矩,利用当前一阶矩以及当前二阶矩更新当前的梯度,得到当前的梯度修正值;步骤四、利用当前的梯度修正值更新当前的第一对抗样本,得到更新后的第一对抗样本;步骤五、利用更新后的第一对抗样本以及当前的梯度修正值更新当前的第二对抗样本,得到更新后的第二对抗样本,返回步骤二;步骤六、输出当前迭代过程中更新后的第一对抗样本;本发明的优点在于:提高迁移性。

技术研发人员:鲍蕾,余红霞,鲁磊纪,黄启东,肖红菊,周丽媛,束凯,赵小帆,张彬彬
受保护的技术使用者:中国人民解放军陆军炮兵防空兵学院
技术研发日:
技术公布日:2024/11/18
文档序号 : 【 40048541 】

技术研发人员:鲍蕾,余红霞,鲁磊纪,黄启东,肖红菊,周丽媛,束凯,赵小帆,张彬彬
技术所有人:中国人民解放军陆军炮兵防空兵学院

备 注:该技术已申请专利,仅供学习研究,如用于商业用途,请联系技术所有人。
声 明此信息收集于网络,如果你是此专利的发明人不想本网站收录此信息请联系我们,我们会在第一时间删除
鲍蕾余红霞鲁磊纪黄启东肖红菊周丽媛束凯赵小帆张彬彬中国人民解放军陆军炮兵防空兵学院
眼动跟踪方法、装置、显示设备、存储介质和程序产品与流程 混动汽车开关电磁阀自检方法、装置、设备及存储介质与流程
相关内容