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一种用于光模块的MT-FA测试结构及方法与流程

2025-07-26 13:40:06 415次浏览
一种用于光模块的MT-FA测试结构及方法与流程

本发明属于光模块,尤其涉及一种用于光模块的mt-fa测试结构及方法。


背景技术:

1、随着数据中心和人工智能(ai)技术的快速发展,光模块的需求量大幅增加。光模块作为光纤通信系统中的关键组件,其内部包含一个称为mt-fa(mechanical transfer -fiber array)的无源传输组件。为确保产品质量和性能,mt-fa组件在生产过程中需要进行严格的性能测试。

2、目前,大部分厂家采用的测试方式是将产品的mt连接头端面与mpo(multi-fiberpush on)测试跳线端面对接,然后手持光纤阵列fa调整端面角度与功率计的光电探测器(pd)面对准,并对每个通道逐一进行测试。然而,这种测试方法存在诸多问题:操作不便,需要精确的手动对准;测试稳定性差,手动操作可能导致测量结果不一致;测试效率低,每个组件的测试时间较长。这些限制不仅影响了测试的准确性,也阻碍了产品质量和生产效率的提升。

3、随着光模块需求的快速增长,现有的测试方法已难以满足大规模生产的需求。因此,开发一种更高效、更准确、更稳定的mt-fa组件测试方法成为了行业的迫切需求,以支持光模块的批量生产并提高整体产品质量。


技术实现思路

1、本发明要解决的技术问题在于针对现有技术中存在的技术缺陷,提供一种用于光模块的mt-fa测试结构及方法,其能够提高mt-fa的测试效率、保持测试mt-fa的一致性、极大促进了mt-fa大规模生产的质量与效率提升。

2、本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:本发明公开了一种用于光模块的mt-fa测试结构,包括第一直线位移单元和第二直线位移单元,第一直线位移单元和第二直线位移单元均沿x轴向延伸布置,第一直线位移单元和第二直线位移单元沿y轴向平行间隔布置,第一直线位移单元设置有光电探测器单元,第二直线位移单元上设置有用于固定光纤阵列组件的第一固定单元和用于固定mt连接头与mpo测试跳线的第二固定单元,所述第一固定单元可沿y轴向位移的连接于所述第二直线位移单元上,所述第二固定单元固接于连接于所述第二直线位移单元上,所述光电探测器单元和所述第一固定单元一一对应布置。

3、在本发明的一种优选实施方案中,所述第二固定单元包括与所述第二直线位移单元的位移端连接的底板,所述底板上连接有仿形槽底座,所述仿形槽底座的一端设置有导向凸台、另一端设置有限位槽,所述仿形槽底座上固接有两个镜像对称布置的弹簧限位块,每个弹簧限位块的中部设置有沿z轴向贯穿的弹簧安装孔,每个弹簧限位块的内端面上设置有用于固定mpo测试跳线的定位特征,每个弹簧限位块的外端面设置有与所述弹簧安装孔连通的沿x轴向延伸的通孔,所述弹簧安装孔内设置有弹簧,还包括两个用于固定mt连接头的固定支架,所述固定支架与所述弹簧限位块一一对应布置,每个固定支架包括与所述导向凸台配合的沿y轴向延伸的导向孔和和能够穿过弹簧限位块上通孔伸入弹簧安装孔内的l型特征,弹簧一端与l型特征接触、另一端与弹簧限位块接触。

4、在本发明的一种优选实施方案中,所述导向凸台至少包括个,两个固定支架呈c字型布置。

5、在本发明的一种优选实施方案中,所述弹簧限位块能够沿x轴向位移的连接于所述仿形槽底座上。

6、在本发明的一种优选实施方案中,所述底板通过滑轨支架与所述第二直线位移单元的位移端连接。

7、在本发明的一种优选实施方案中,所述仿形槽底座设置有沿y轴向延伸布置的导向槽,所述导向槽内滑动配合连接有调节杆,调节杆至少部分位于导向槽外部,调节杆的端部连接有第一固定单元。

8、在本发明的一种优选实施方案中,所述第一固定单元包括固接于调节杆上的支撑底座,所述支撑底座上设置有侧面定位块和固定螺杆,所述固定螺杆的中心轴线垂直于所述侧面定位块,光纤阵列的端头固定于所述固定螺杆和所述固定螺杆之间。

9、在本发明的一种优选实施方案中,所述光电探测器单元包括多自由度调节架、镜头固定支架和光电探测器,所述多自由度调节架的固定端固接于所述直线位移单元上,所述多自由度调节架的移动端与所述镜头固定支架连接,所述镜头固定支架上设置有所述光电探测器。

10、在本发明的一种优选实施方案中,包括防震台,所述防震台上设置有所述直线位移单元。

11、本发明还公开了一种用于光模块的mt-fa测试结构的使用方法,将测试跳线中的mpo端面与mt-fa的mt端面通过导针对接,推开左右固定支架并将对接后的产品放入两个弹簧限位块之间,固定支架和弹簧限位块配合将mt连接头与mpo测试跳线的对接固定;将mt-fa的光纤阵列头放入第一固定单元中;通过调节调节杆,使固定装置槽的长度适配产品纤长,并通过侧面螺杆锁紧调节位置;将调节第二直线位移单元使得mt-fa的光纤阵列头预对准光电探测器单元,调节第一直线位移单元和多自由度调节架实现光纤阵列头精确对准光电探测器单元。

12、本发明产生的有益效果是:本发明的mt-fa测试结构及其使用方法不仅有效解决了现有技术中存在的操作不便、测试稳定性差、效率低下等问题,还显著提高了测试的自动化程度、精确性和效率。其灵活的设计使得测试结构具有优秀的适应性和通用性,能够适应不同型号产品的测试需求。通过实现一次性多通道测试和便捷的角度调节,大大提升了测试效率和准确性。这些优点使得本发明能够有效支持光模块的大规模生产,满足快速增长的市场需求,并为提高整体产品质量和生产效率做出重要贡献,从而增强企业在光通信领域的竞争力。

13、首先,本发明的测试结构通过采用两个直线位移单元和精确的固定装置,大幅提高了测试的自动化程度和精确性。这不仅显著减少了人为操作误差,还提升了测试的稳定性和一致性,从而保证了测试结果的可靠性。特别值得一提的是,该结构可以一次性测试mt-fa的所有通道,极大地提高了测试效率,这对于满足大规模生产需求至关重要。

14、其次,本发明的设计巧妙地解决了传统手动测试中对准困难的问题。通过使用第一固定单元和第二固定单元,结合直线位移单元和多自由度调节架1,实现了mt连接头、mpo测试跳线以及光纤阵列的精确定位和对准。更重要的是,光纤阵列fa的放置位置角度可调节,这大大方便了与光电探测器(pd)接收面的对接,确保了测试的稳定性和一致性。这种设计不仅简化了操作流程,还显著提高了测试的准确性。

15、再者,该测试结构展现了出色的灵活性和适应性。尤其值得强调的是,不同型号的mt-fa通常具有不同的光纤长度,而本结构通过可调节的设计巧妙地解决了这一问题。操作人员可以轻松调节结构的距离以适配不同的纤长,从而实现对各种型号mt-fa的精准测试。这种灵活性极大地增强了设备的通用性,使其能够满足多样化的产品测试需求。

16、此外,本发明的模块化设计进一步增强了其适应性。例如,可调节的固定支架和弹簧限位块设计使得结构能够适应不同规格的mt-fa。这种多方面的灵活性不仅提高了设备的使用效率,还降低了企业的设备投资成本。

17、本发明还充分考虑到了测试过程中的稳定性问题。通过在底部设置防震台4,有效减少了外部振动对测试结果的影响,进一步提高了测试的准确性和可靠性。这一设计对于保证大批量生产中的测试质量具有重要意义。

18、最后,该测试结构的使用方法简单明了,操作步骤清晰,大大降低了操作人员的技能要求,同时也减少了人为失误的可能性。这不仅有利于提高测试效率,还能确保测试质量的一致性,对于维持产品的高质量标准至关重要。

文档序号 : 【 40049858 】

技术研发人员:顾共恩,张美容,宋明,樊恒志,潘协雷,汤宇帆,郝志民,刘明珠,肖艳松
技术所有人:武汉恩达通科技有限公司

备 注:该技术已申请专利,仅供学习研究,如用于商业用途,请联系技术所有人。
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