一种用于光模块的MT-FA测试结构及方法与流程

1.一种用于光模块的mt-fa测试结构，其特征在于，包括第一直线位移单元和第二直线位移单元，第一直线位移单元和第二直线位移单元均沿x轴向延伸布置，第一直线位移单元和第二直线位移单元沿y轴向平行间隔布置，第一直线位移单元设置有光电探测器单元，第二直线位移单元上设置有用于固定光纤阵列组件的第一固定单元和用于固定mt连接头与mpo测试跳线的第二固定单元，所述第一固定单元可沿y轴向位移的连接于所述第二直线位移单元上，所述第二固定单元固接于连接于所述第二直线位移单元上，所述光电探测器单元和所述第一固定单元一一对应布置。

2.根据权利要求1所述的用于光模块的mt-fa测试结构，其特征在于，所述第二固定单元包括与所述第二直线位移单元的位移端连接的底板（9），所述底板（9）上连接有仿形槽底座（10），所述仿形槽底座（10）的一端设置有导向凸台（10.1）、另一端设置有限位槽（10.2），所述仿形槽底座（10）上固接有两个镜像对称布置的弹簧限位块，每个弹簧限位块的中部设置有沿z轴向贯穿的弹簧安装孔，每个弹簧限位块的内端面上设置有用于固定mpo测试跳线的定位特征，每个弹簧限位块的外端面设置有与所述弹簧安装孔连通的沿x轴向延伸的通孔，所述弹簧安装孔内设置有弹簧（15），还包括两个用于固定mt连接头的固定支架，所述固定支架与所述弹簧限位块一一对应布置，每个固定支架包括与所述导向凸台（10.1）配合的沿y轴向延伸的导向孔和和能够穿过弹簧限位块上通孔伸入弹簧安装孔内的l型特征，弹簧（15）一端与l型特征接触、另一端与弹簧限位块接触。

3.根据权利要求2所述的用于光模块的mt-fa测试结构，其特征在于，所述导向凸台（10.1）至少包括4个，两个固定支架呈c字型布置。

4.根据权利要求2所述的用于光模块的mt-fa测试结构，其特征在于，所述弹簧限位块能够沿x轴向位移的连接于所述仿形槽底座（10）上。

5.根据权利要求2所述的用于光模块的mt-fa测试结构，其特征在于，所述底板（9）通过滑轨支架（8）与所述第二直线位移单元的位移端连接。

6.根据权利要求2所述的用于光模块的mt-fa测试结构，其特征在于，所述仿形槽底座（10）设置有沿y轴向延伸布置的导向槽，所述导向槽内滑动配合连接有调节杆，调节杆至少部分位于导向槽外部，调节杆的端部连接有第一固定单元。

7.根据权利要求6所述的用于光模块的mt-fa测试结构，其特征在于，所述第一固定单元包括固接于调节杆上的支撑底座，所述支撑底座上设置有侧面定位块（22）和固定螺杆（19），所述固定螺杆（19）的中心轴线垂直于所述侧面定位块（22），光纤阵列的端头固定于所述固定螺杆（19）和所述固定螺杆（19）之间。

8.根据权利要求7所述的用于光模块的mt-fa测试结构，其特征在于，所述光电探测器单元包括多自由度调节架（1）、镜头固定支架（2）和光电探测器（3），所述多自由度调节架（1）的固定端固接于所述直线位移单元上，所述多自由度调节架（1）的移动端与所述镜头固定支架（2）连接，所述镜头固定支架（2）上设置有所述光电探测器（3）。

9.根据权利要求1所述的用于光模块的mt-fa测试结构，其特征在于，包括防震台（4），所述防震台（4）上设置有所述直线位移单元。

10.一种如权利要求1-9任一项所述的用于光模块的mt-fa测试结构的使用方法，其特征在于，将测试跳线中的mpo端面与mt-fa的mt端面通过导针对接，推开左右固定支架并将对接后的产品放入两个弹簧限位块之间，固定支架和弹簧限位块配合将mt连接头与mpo测试跳线的对接固定；将mt-fa的光纤阵列头放入第一固定单元中；通过调节调节杆，使固定装置槽的长度适配产品纤长，并通过侧面螺杆锁紧调节位置；将调节第二直线位移单元使得mt-fa的光纤阵列头预对准光电探测器单元，调节第一直线位移单元和多自由度调节架（1）实现光纤阵列头精确对准光电探测器单元。