一种半导体新材料生产废水检测装置及其检测方法与流程
技术特征：
1.一种半导体新材料生产废水检测装置，包括沉淀机构(1)，所述沉淀机构(1)还包括有设备底板(101)，所述设备底板(101)的顶部固定连接有排出管(102)，所述设备底板(101)的顶部固定连接有沉淀筒(103)，其特征在于，还包括：
2.根据权利要求1所述的一种半导体新材料生产废水检测装置，其特征在于：所述沉淀机构(1)还包括固定连接在排出管(102)内壁处的密封板(104)，所述密封板(104)的顶部固定连接有入料管(105)，所述入料管(105)的顶部贯通连接有入料口(106)。
3.根据权利要求2所述的一种半导体新材料生产废水检测装置，其特征在于：所述沉淀机构(1)还包括固定连接在入料管(105)侧壁处的固定板(107)，所述固定板(107)的底部固定连接有电动伸缩杆(108)，所述电动伸缩杆(108)远离固定板(107)的一端固定连接有活塞环(109)。
4.根据权利要求3所述的一种半导体新材料生产废水检测装置，其特征在于：所述检测机构(2)还包括滑动连接在沉淀筒(103)内壁处的受压环(205)，所述受压环(205)的底部固定连接有受压弹簧(206)，所述受压弹簧(206)远离受压环(205)的一端与设备底板(101)的顶部固定连接，所述沉淀筒(103)的侧壁处固定连接有收集箱(207)，所述收集箱(207)的底部贯通连接有流动管(208)，所述流动管(208)远离收集箱(207)的一端贯通连接有检测仪(209)，所述受压环(205)的顶部开设有若干个斜面槽(210)。
5.根据权利要求4所述的一种半导体新材料生产废水检测装置，其特征在于：所述检测机构(2)还包括开设在入料管(105)侧壁处的入水滑槽(211)，所述入水滑槽(211)的内壁处滑动连接有入水滑板(213)，所述入水滑板(213)的顶部固定连接有复位弹簧(212)，所述复位弹簧(212)远离入水滑板(213)的一端与入水滑槽(211)的内壁固定连接。
6.根据权利要求5所述的一种半导体新材料生产废水检测装置，其特征在于：所述毛絮收集机构(3)还包括固定连接在收集架(302)侧壁处的滑动轨道(305)，所述滑动轨道(305)的内壁处固定连接有推动弹簧(306)，所述收集架(302)的内壁处滑动连接有滑轨(307)，所述滑轨(307)的外壁处滑动连接有滑动杆(308)，所述滑动杆(308)的底部固定连接有受压弧板(309)，所述收集架(302)的底部固定连接过滤板(310)，所述过滤板(310)的顶部开设有毛絮排出口(317)。
7.根据权利要求6所述的一种半导体新材料生产废水检测装置，其特征在于：所述毛絮收集机构(3)还包括滑动连接在滑动轨道(305)内壁处的滑块一(312)，所述滑块一(312)的顶部固定连接有转动杆(313)，所述转动杆(313)的外壁处转动连接有受力杆(314)，所述受力杆(314)的一端与受压弧板(309)侧壁固定连接，所述滑动轨道(305)的内壁处滑动连接有滑块二(315)，所述滑块二(315)的内壁处固定连接有拉力弹簧(316)。
8.根据权利要求1-7任意一项所述的半导体新材料生产废水检测装置，其特征在于，所述检测装置的使用方法，包括如下步骤：
技术总结
本发明涉及废水检测技术领域，且公开了一种半导体新材料生产废水检测装置及其检测方法，包括沉淀机构，所述沉淀机构还包括有设备底板，本发明利用金属颗粒、絮状物质量较重的特点，在设备内部设置有沉淀筒，设备开始运行时，电动伸缩杆产生伸缩的力，带动活塞环向上移动，在活塞环到达预设最高点时，活塞环的顶部与入水滑板的底部接触，使入水滑板沿着入水滑槽的内壁向上移动，此时入料管内壁的废水通过入水滑槽的向外排出，进入沉淀筒内壁，在废水完成入料后，废水开始进行沉淀环节；在完成沉淀后，此时沉淀筒内部废水将呈现分层的现象，从上至下为废水，絮状物，金属颗粒，电动伸缩杆产生延展的力，迫使活塞环沿着沉淀筒的内壁向下移动。
技术研发人员：袁超,周德军,刘水发,刘鹏,周强
受保护的技术使用者：浙江精瓷半导体有限责任公司
技术研发日：
技术公布日：2024/11/18
技术研发人员：袁超,周德军,刘水发,刘鹏,周强
技术所有人：浙江精瓷半导体有限责任公司
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