一种LED芯片外观智能快速检测系统及方法与流程
技术特征：
1.一种led芯片外观智能快速检测系统，其特征在于：包括光源控制模块、图像采集模块、特征提取与融合模块、缺陷识别模块和综合检测分析模块；
2.根据权利要求1所述的一种led芯片外观智能快速检测系统，其特征在于：所述光源控制模块通过构建光源组合矩阵l与光源控制设备，在计算机控制平台上进行集成，设定拍摄光源的光源状态l、俯仰角a和方位角b进行控制，所述光源控制设备包括数字信号处理dsp、脉宽调制设备、自动化控制电动机和自动化旋转支架；
3.根据权利要求2所述的一种led芯片外观智能快速检测系统，其特征在于：所述图像采集模块包括图像采集单元和图像预处理单元；
4.根据权利要求3所述的一种led芯片外观智能快速检测系统，其特征在于：所述特征提取与融合模块包括特征提取单元、特征计算单元和特征融合单元；
5.根据权利要求4所述的一种led芯片外观智能快速检测系统，其特征在于：所述局部表面纹理分析单元通过使用图像二阶微分的方差构建局部纹理计算公式，进行计算输出标准图像集的局部表面纹理参数t（x，y）；
6.根据权利要求4所述的一种led芯片外观智能快速检测系统，其特征在于：所述光源偏振分析单元通过构建光源偏振角算法公式，并提取图片特征集中的横轴方向电场分量ex和纵轴方向电场分量ey，输入到光源偏振角算法公式中，进行计算输出光源偏振角p（a，b）；
7.根据权利要求6所述的一种led芯片外观智能快速检测系统，其特征在于：所述缺陷识别模块包括边缘检测单元、纹理分析单元和反射异常检测单元；
8.根据权利要求7所述的一种led芯片外观智能快速检测系统，其特征在于：所述综合检测分析模块包括综合得分计算单元和综合评估单元；
9.根据权利要求8所述的一种led芯片外观智能快速检测系统，其特征在于：所述综合评估单元通过用户进行设定合格阈值t与综合得分scom进行对比评估，分析led芯片外观进行快速检测合格性，并生成智能预警信息，具体评估内容如下；
10.一种led芯片外观智能快速检测方法，应用于权利要求1-9任一项所述的一种led芯片外观智能快速检测系统，其特征在于：包括以下步骤：
技术总结
本发明公开了一种LED芯片外观智能快速检测系统及方法，涉及芯片检测技术领域，该系统通过光源控制模块通过构建光源组合矩阵L，精确设定光源状态、俯仰角和方位角，实现对LED芯片的多角度照射。图像采集模块利用带有偏振滤镜的工业相机，同步捕捉不同角度的图像，并通过透视校正、畸变校正等预处理，获取高质量的标准图像。在特征提取与融合模块中，系统提取多角度反射指数R(A，B)、局部表面纹理参数T(x，y）和光源偏振角P(A，B）等关键特征，通过综合计算生成融合图像Ifused。这种检测系统能够更加准确地识别芯片表面的细微缺陷，显著提高检测精度和一致性，同时减少人工检测的时间和误差。
技术研发人员：李琴,崔鹏,郝鹏
受保护的技术使用者：深圳市领耀东方科技股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/11/18
技术研发人员：李琴,崔鹏,郝鹏
技术所有人：深圳市领耀东方科技股份有限公司
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