电子装置的检测方法与流程

本发明涉及电子装置制造的，特别涉及一种电子装置的检测方法。

背景技术：

1、目前在电子装置的制造过程中对电子装置进行检测时，若一般使用人检的检查站点来检测电子装置是否有缺陷，会因人员的身高及疲劳状态导致误判，且无法留下影像记录回溯当时制程的状况；而若使用现行的检验设备来进行检测，由于检验设备的光源及相机的角度皆为固定或为特定角度，因此检测防守的范围极为受限，导致缺陷检出能力欠佳。

2、再者，随着制程技术的进步，部份新颖的工艺需要在大视角方可判定其缺陷，故以现有光学检验设备及人检都有其限制而难以满足实际的需要。

3、因此，有必要提供一种新颖的电子装置的检测方法以改善前述的问题。

技术实现思路

1、本发明提供一种电子装置的检测方法，其包括步骤：提供一待测物；通过一检测系统检查该待测物，其中该检测系统具有一光学设备，包括步骤：通过该光学设备提供一第一检测光用于检测该待测物的一第一位置后并接收一第一反射光并记录在一控制器；移动该光学设备；以及通过该光学设备提供一第二检测光用于检测该待测物的该第一位置后并接收一第二反射光并记录在该控制器；以及通过该第一反射光与该第二反射光判定是否有异常。

2、本发明还提供一种电子装置的检测方法，其包括步骤：提供一待测物；通过一光学设备检查该待测物，包括：选择一第一光源以提供一第一检测光用于检测该待测物的一第一位置后并接收一第一反射光并记录在一控制器；及选择一第二光源以提供一第二检测光用于检测该待测物的该第一位置后并接收一第二反射光并记录在该控制器；以及通过该第一反射光与该第二反射光判定是否有异常。

3、从下列的详细描述并结合附图，本发明的其他的新颖特征将变得更为清楚。

1.一种电子装置的检测方法，其特征在于，包括步骤：

2.如权利要求1所述的电子装置的检测方法，其特征在于，该第一检测光与该待测物的法线方向具有一第一夹角，该第二检测光与该待测物的法线方向具有一第二夹角，该第一夹角不同于该第二夹角。

3.如权利要求1所述的电子装置的检测方法，其特征在于，该第一检测光来自空间中的一第一光源位置，该第二检测光来自空间中的一第二光源位置，该第一光源位置不同于该第二光源位置。

4.如权利要求1所述的电子装置的检测方法，其特征在于，通过该检测系统检查该待测物的步骤还包括：移动该光学设备；以及通过该光学设备提供一第三检测光用于检测该待测物的该第一位置并接收一第三反射光并记录在该控制器，其中，通过该第一反射光与该第二反射光及还通过该第三反射光判定是否有异常。

5.如权利要求4所述的电子装置的检测方法，其特征在于，该第一检测光与该待测物的法线方向具有一第一夹角，该第二检测光与该待测物的法线方向具有一第二夹角，该第三检测光与该待测物的法线方向具有一第三夹角，该第一夹角、该第二夹角及该第三夹角互不相同。

6.如权利要求1所述的电子装置的检测方法，其特征在于，通过该光学设备提供一第一检测光的步骤与该移动该光学设备的步骤之间还包含步骤：以该光学设备提供一第三检测光用于检测该待测物的该第一位置后并接收一第三反射光并记录在该控制器，其中，该第三检测光的波长不同于第一检测光的波长，且该判定是否有异常的步骤还通过该第三反射光判定是否有异常。

7.一种电子装置的检测方法，其特征在于，包括步骤：

8.如权利要求7所述的电子装置的检测方法，其特征在于，该第一检测光具有一第一波长，该第二检测光具有一第二波长，该第一波长不同于该第二波长。

9.如权利要求7所述的电子装置的检测方法，其特征在于，该通过一光学设备检查该待测物的步骤还包括：选择一第二光源以提供一第三检测光用于检测该待测物的该第一位置并接收一第三反射光并记录在该控制器，其中，通过该第一反射光与该第二反射光及还通过该第三反射光判定是否有异常。

10.如权利要求7所述的电子装置的检测方法，其特征在于，该第一检测光具有一第一波长，该第二检测光具有一第二波长，该第三检测光具有一第三波长，该第一波长、该第二波长及该第三波长互不相同。