一种集成电路测试机的制作方法

1.一种集成电路测试机，其特征在于，包括：测试外箱（1）、测试内筐（2）、资源板（3）与装配组件；

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试机，其特征在于：所述测试内筐（2）中设置有限位条（13），所述限位条（13）沿自身长度方向间隔设置有多个限位槽（14），且所述围护框（7）具有用于插接至所述限位槽（14）中的限位凸（15）。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试机，其特征在于：所述定位柱（10）磁吸于所述推动件（11）上，且所述推动件（11）交替设置第一抵接部（16）与第二抵接部（17），所述推动件（11）转动时所述第一抵接部（16）与所述第二抵接部（17）依次抵接于所述定位柱（10）远离所述导向座（9）外部的一端；

4.根据权利要求3所述的一种集成电路测试机，其特征在于：所述导向座（9）中设置有与所述定位柱（10）相连的第一弹性件（18），所述第一弹性件（18）始终给予所述定位柱（10）向靠近所述推动件（11）方向与所述推动件（11）相抵的弹力。

5.根据权利要求3所述的一种集成电路测试机，其特征在于：所述推动件（11）包括沿同一直线方向延伸并固定连接的转动段（111）与推动段（112），且所述转动段（111）呈圆柱状并自转于所述导向座（9）中，所述第一抵接部（16）与所述第二抵接部（17）均设置于所述推动段（112）上；

6.根据权利要求5所述的一种集成电路测试机，其特征在于：所述测试内筐（2）顶部具有圆弧状的第一圆弧部（20）；所述围护框（7）顶部具有用于抵接至所述测试内筐（2）顶端的外沿（21），所述外沿（21）具有圆弧状的第二圆弧部（22），所述第一圆弧部（20）与所述第二圆弧部（22）的外径一致；当所述外沿（21）与所述测试内筐（2）相抵时，所述第一圆弧部（20）的圆心与所述第二圆弧部（22）的圆心重合；

7.根据权利要求6所述的一种集成电路测试机，其特征在于：所述导向座（9）中具有与所述外座（1211）相连的第二弹性件（24），所述第二弹性件（24）始终给予所述外座（1211）向靠近所述限制位方向移动的弹力。

8.根据权利要求6所述的一种集成电路测试机，其特征在于：所述联动件（12）还包括设置于所述抵接座（124）上的拉环（125），当所述抵接座（124）抵入所述外沿（21）中时，所述拉环（125）位于所述外沿（21）外部。

9.根据权利要求3所述的一种集成电路测试机，其特征在于：所述定位柱（10）远离所述推动件（11）的一端设置有尖端（25）。

10.根据权利要求3所述的一种集成电路测试机，其特征在于：所述定位柱（10）于所述推动件（11）相对两侧均有设置。