一种PCB板元器件缺陷检测方法、系统、设备和介质
技术特征：
1.一种pcb板元器件缺陷检测方法，其特征在于，步骤包括：
2.根据权利要求1所述的一种pcb板元器件缺陷检测方法，其特征在于，步骤包括：
3.一种pcb板元器件缺陷检测系统，其特征在于，应用在pcb板元器件质量检测中，实现权利要求1或2所述的pcb板元器件缺陷检测方法，包括用于执行所述方法中各个步骤的处理指令模块。
4.一种pcb板元器件缺陷检测设备，其特征在于，包括：
5.计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时能够实现权利要求1或2所述的pcb板元器件缺陷检测方法。
技术总结
一种PCB板元器件缺陷检测方法、系统、设备和介质，检测方法包括：获取大量带标签的PCB板元器件图像数据来构造训练集和测试集；训练联合卷积和视觉Transformer网络对PCB板元器件图像数据进行检测获取图像数据的种类信息和可信度；对PCB板元器件图像进行轮廓提取，获取Mark点信息；获取PCB板元器件图像字符区域并利用OCR字符识别网络得到图像的字符信息；将获取的种类信息、Mark点信息以及OCR字符信息与标准的PCB板元器件进行对比，判断元器件是否存在缺陷；本发明可以解决人工检测带来的检测效率低、检测精度差等问题，可以在无接触检测的条件下，完成高效率高速度的实时检测；另外本发明还包括该方法下的系统、设备和介质。
技术研发人员：孙孝飞,魏灿名,郭捷,赵飞,梅雪松
受保护的技术使用者：西安交通大学
技术研发日：
技术公布日：2024/12/2
文档序号 :
【 40200539 】
技术研发人员：孙孝飞,魏灿名,郭捷,赵飞,梅雪松
技术所有人：西安交通大学
备 注：该技术已申请专利，仅供学习研究，如用于商业用途，请联系技术所有人。
声 明 ：此信息收集于网络，如果你是此专利的发明人不想本网站收录此信息请联系我们，我们会在第一时间删除
技术研发人员：孙孝飞,魏灿名,郭捷,赵飞,梅雪松
技术所有人：西安交通大学
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