纳微米带电颗粒比表面积和表面电荷密度的联合测定方法
技术特征：
1.纳微米带电颗粒比表面积和表面电荷密度的联合测定方法，其特征在于，包括以下步骤；
2.根据权利要求1所述的纳微米带电颗粒比表面积和表面电荷密度的联合测定方法，其特征在于，步骤s1包括以下子步骤：
3.根据权利要求1所述的纳微米带电颗粒比表面积和表面电荷密度的联合测定方法，其特征在于，步骤s3包括以下子步骤：
4.根据权利要求1所述的纳微米带电颗粒比表面积和表面电荷密度的联合测定方法，其特征在于，步骤s4包括以下子步骤：
技术总结
本发明涉及纳微米颗粒的性能测定领域，具体涉及一种纳微米带电颗粒比表面积和表面电荷密度的联合测定方法：制备H+饱和样；选定两种指示离子对应的阴离子分别为Cl‑，A和B分别为K+、Na+、Ca2+中的任意两种离子；测定平衡体系中指示离子的活度；计算平衡体系中指示离子的浓度；计算指示离子在纳微米颗粒表面的吸附量：计算纳微米颗粒表面电位；计算颗粒的表面电荷密度；获得颗粒的比表面积。本发明在颗粒表面的离子交换达到平衡时，只需测定平衡溶液中两种指示离子的浓度，就可直接计算颗粒的比表面积和表面电荷密度。
技术研发人员：刘新敏,李航,吴永烽,唐颖,田锐,李睿
受保护的技术使用者：西南大学
技术研发日：
技术公布日：2024/12/2
文档序号 :
【 40200778 】
技术研发人员：刘新敏,李航,吴永烽,唐颖,田锐,李睿
技术所有人：西南大学
备 注：该技术已申请专利，仅供学习研究，如用于商业用途，请联系技术所有人。
声 明 ：此信息收集于网络，如果你是此专利的发明人不想本网站收录此信息请联系我们，我们会在第一时间删除
技术研发人员：刘新敏,李航,吴永烽,唐颖,田锐,李睿
技术所有人：西南大学
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