PCB缺陷检测方法、系统、设备和存储介质

1.一种pcb缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的一种pcb缺陷检测方法，其特征在于，所述easpf模块为特征提取模块，所述easpf模块包含卷积块、注意力机制模块、全连接层以及扩张卷积模块。

3. 根据权利要求1所述的一种pcb缺陷检测方法，其特征在于，所述特征融合网络bifpn是一种双向加权特征金字塔融合架构，由多个 bifpn 块和多个卷积块组成；所述bifpn 块可以将多层的特征信息进行有效的融合，以提高检测精度。

4. 根据权利要求1所述的一种pcb缺陷检测方法，其特征在于，所述自适应 mbam 注意力机制包括(c, h, w)、(h, c, w)和(w, h, c) 三个分支，分别记为、和；所述自适应 mbam 注意力机制的操作过程具体为：

5.根据权利要求4所述的一种pcb缺陷检测方法，其特征在于，

6.根据权利要求1所述的一种pcb缺陷检测方法，其特征在于，所述对检测结果进行评价中的评价指标包括平均精度均值、精确率、召回率和帧率；

7.根据权利要求1所述的一种pcb缺陷检测方法，其特征在于，所述对获取的所述pcb数据集的图像进行预处理，具体为：

8.一种pcb缺陷检测系统，能够实现权利要求1-7任一项所述的一种pcb缺陷检测方法，其特征在于，所述系统包括：

9.一种电子设备，其特征在于，包括处理器，存储器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的程序或指令，所述程序或指令被所述处理器执行时实现如权利要求1-7所述的一种pcb缺陷检测方法的步骤。

10.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储程序或指令，所述程序或指令被处理器执行时实现如权利要求1-7所述的一种pcb缺陷检测方法的步骤。