一种碳化硅小面成像系统及小面识别方法与流程
技术特征:
1.一种碳化硅小面成像系统,其特征在于,包括:数据处理模块(a)和数据采集模块(c);
2.根据权利要求1所述的一种碳化硅小面成像系统,其特征在于,还包括:信号同步模块(b);
3.根据权利要求1所述的一种碳化硅小面成像系统,其特征在于,所述双色镜(12)的反射方向设置电动转台(14);所述电动转台(14)用于放置碳化硅晶锭(13);
4.根据权利要求3所述的一种碳化硅小面成像系统,其特征在于,所述光源(1)发射365nm的光。
5.一种根据权利要求1至4任一项所述的一种碳化硅小面成像系统的小面识别方法,其特征在于,包括以下过程:
6.根据权利要求5所述的一种碳化硅小面成像系统的小面识别方法,其特征在于,在步骤1中,采集的原始晶锭照片先进行筛选:首先,在原始晶锭照片上选取多个不同位置,作为照片灰度值的判断区域;然后,确定判断区域的灰度值,并将判断区域的灰度值与灰度值阈值进行比较,保留所有判断区域的灰度值都在灰度值阈值范围内的原始晶锭照片,进行后续处理。
7.根据权利要求5所述的一种碳化硅小面成像系统的小面识别方法,其特征在于,所述灰度值缩放处理,包括:
8.根据权利要求7所述的一种碳化硅小面成像系统的小面识别方法,其特征在于,所述对比度增强处理,包括:
9.根据权利要求8所述的一种碳化硅小面成像系统的小面识别方法,其特征在于,所述阈值化处理,包括:
10.根据权利要求9所述的一种碳化硅小面成像系统的小面识别方法,其特征在于,所述初步筛选:小面区域和非小面区域进行初步区分后,设置参数对上述区域进行初步筛选;参数包括圆度、宽高比、面积、孔洞面积占比;
技术总结
本发明涉及光学检测技术领域,提供一种碳化硅小面成像系统及小面识别方法,所述的一种碳化硅小面成像系统包括:数据处理模块和数据采集模块;所述数据采集模块,包括:光源、第一滤光片、偏振片、1/2波片、第一透镜组、采集装置、镜头、第二滤光片、第二透镜组、双色镜;所述光源的出射方向依次设置第一滤光片、偏振片、1/2波片、第一透镜组、双色镜;所述双色镜与光源的出射方向呈45°角设置,所述双色镜的出射方向依次设置第二透镜组、第二滤光片、镜头和采集装置;所述镜头安装在采集装置上;所述采集装置采用CCD相机或单光子探测器。本发明能够提高小面区域识别的准确率,减少人工干预,降低人工检测成本。
技术研发人员:刘帅,赵湧涛,刘俊学,陈智
受保护的技术使用者:大连创锐光谱科技有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/11/28
文档序号 :
【 40163295 】
技术研发人员:刘帅,赵湧涛,刘俊学,陈智
技术所有人:大连创锐光谱科技有限公司
备 注:该技术已申请专利,仅供学习研究,如用于商业用途,请联系技术所有人。
声 明 :此信息收集于网络,如果你是此专利的发明人不想本网站收录此信息请联系我们,我们会在第一时间删除
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