基于外延法的滤红光玻璃折射率测量方法、系统及装置与流程

本发明涉及光学玻璃的测量,具体涉及一种基于外延法的滤红光玻璃折射率测量方法、系统及装置。
背景技术:
1、滤红光玻璃是一种用于手机等设备的ccd或cmos探测器前的滤光片,其设计目的是允许特定波长的光通过,同时阻挡其他波长的光。这种玻璃在光谱的红色区域具有极高的透过率截止点,通常在0.6um波长之后,其透过率降至大约0.2%。这种特性对于光学系统设计至关重要,因为它影响着光学仪器的性能和精确度。
2、根据gb/t7962.17-2010的标准,可以测量滤红光玻璃在0.4861um、0.5461um和0.5876um波长下的折射率。然而,对于0.6563um,即红色光谱区域的折射率,现有的测试方法和仪器设备无法直接测量。这导致了无法获得该波长下的折射率数据,进而无法计算色散数据和阿贝数,这些参数对于光学系统设计和性能评估是必不可少的。这种局限性也增加了设计过程中的复杂性和不确定性,因为设计师需要依赖近似值或经验法则来进行设计,这可能无法满足高精度应用的需求。
技术实现思路
1、本发明提出了一种基于外延法的滤红光玻璃折射率测量方法、系统及装置,解决了现有技术无法直接测量滤光玻璃在红色光谱区域的折射率的问题。
2、为解决上述技术问题,本发明提供了一种基于外延法的滤红光玻璃折射率测量方法,包括以下步骤:
3、步骤s1:采集滤红光玻璃在0.4861um、0.5461um和0.5876um波长下的折射率数据,对所述折射率数据进行多项式拟合得到波长与折射率的关系式;
4、步骤s2:将所述滤红光玻璃在0.5893um波长下的折射率数据代入所述波长与折射率的关系式,得到滤红光玻璃在0.5893um波长下的预测折射率数据,比较所述滤红光玻璃在0.5893um波长下的折射率数据与预测折射率数据得到计算误差,调整所述波长与折射率的关系式的参数,直到所述计算误差小于设定的误差阈值;
5、步骤s3:将0.6563um波长代入所述波长与折射率的关系式,得到0.6563um波长下的滤红光玻璃的折射率数据。
6、优选地,步骤s1中所述波长与折射率的关系式的表达式为:
7、
8、式中,n为折射率;λ为波长,单位为um;a0、a、b为常数。
9、本发明还提供了一种基于外延法的滤红光玻璃折射率测量系统,基于上述的一种基于外延法的滤红光玻璃折射率测量方法实现,包括数据采集模块、模型建立模块、模型优化模块和折射率预测模块;
10、所述数据采集模块用于采集滤红光玻璃在多种波长下的折射率数据;
11、所述模型建立模块对所述数据采集模块收集的数据进行多项式拟合,建立波长与折射率之间的关系模型;
12、所述模型优化模块用于调整所述关系模型的参数,直到所述关系模型的误差满足预设的阈值;
13、所述折射率预测模块用于将特定波长代入所述关系模型中,预测滤红光玻璃在该波长下的折射率数据。
14、本发明还提供了一种基于外延法的滤红光玻璃折射率测量装置,适用于上述的一种基于外延法的滤红光玻璃折射率测量方法,所述装置包括光谱仪、旋转台和望远镜,所述光谱仪与旋转台之间设置有滤光片,待测量的滤红光玻璃固定设置在旋转台上,所述旋转台与角度测量装置相连接。
15、优选地,所述光谱仪的光源的波长根据需要测定的波长的折射率进行选择。
16、本发明还提供了一种电子设备,包括:存储器、处理器和计算机程序,所述计算机程序存储在所述存储器中,并被配置为由所述处理器执行以实现上述的一种基于外延法的滤红光玻璃折射率测量方法。
17、本发明另外提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行以实现上述的一种基于外延法的滤红光玻璃折射率测量方法。
18、本发明的有益之处至少包括:
19、本发明提出了一种新的外延法,能够在现有技术无法直接测量的情况下,计算滤红光玻璃在特定波长处的折射率,该方法不仅适用于特定波长,还可以通过调整计算常数来预测红光波段任意波长的折射率,增加了方法的适用性和灵活性,并且由于该方法的实施不需要复杂的设备或技术,可以被光学设计和材料科学领域的专业人员快速理解和应用。
技术特征:
1.一种基于外延法的滤红光玻璃折射率测量方法,其特征在于,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的一种基于外延法的滤红光玻璃折射率测量方法,其特征在于:步骤s1中所述波长与折射率的关系式的表达式为:
3.一种基于外延法的滤红光玻璃折射率测量系统,基于如权利要求1~2任一项所述的一种基于外延法的滤红光玻璃折射率测量方法实现,其特征在于:包括数据采集模块、模型建立模块、模型优化模块和折射率预测模块;
4.一种基于外延法的滤红光玻璃折射率测量装置,适用于如权利要求1~2任一项所述的一种基于外延法的滤红光玻璃折射率测量方法,其特征在于:所述装置包括光谱仪(1)、旋转台(2)和望远镜(3),所述光谱仪(1)与旋转台(2)之间设置有滤光片(4),待测量的滤红光玻璃固定设置在旋转台(2)上,所述旋转台(2)与角度测量装置(5)相连接。
5.如权利要求1所述的光学玻璃折射率的测量装置,其特征在于:所述光谱仪(1)的光源的波长根据需要测定的波长的折射率进行选择。
6.一种电子设备,包括:存储器、处理器和计算机程序,其特征在于:所述计算机程序存储在所述存储器中,并被配置为由所述处理器执行以实现权利要求1~2任一项所述的一种基于外延法的滤红光玻璃折射率测量方法。
7.一种计算机可读存储介质,其特征在于:所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行以实现权利要求1~2任一项所述的一种基于外延法的滤红光玻璃折射率测量方法。
技术总结
本发明公开了一种基于外延法的滤红光玻璃折射率测量方法、系统及装置,所述方法包括以下步骤:采集滤红光玻璃在0.4861um、0.5461um和0.5876um波长下的折射率数据,对其进行多项式拟合得到波长与折射率的关系式;将滤红光玻璃在0.5893um波长下的折射率数据代入波长与折射率的关系式,得到滤红光玻璃在0.5893um波长下的预测折射率数据,比较滤红光玻璃在0.5893um波长下的折射率数据与预测折射率数据得到计算误差,调整波长与折射率的关系式的参数,直到计算误差小于设定的误差阈值;将0.6563um波长代入波长与折射率的关系式,得到0.6563um波长下的滤红光玻璃的折射率数据。
技术研发人员:李辉,吴志强,朱大鹏,周芳魏,周超
受保护的技术使用者:湖北戈碧迦光电科技股份有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/11/28
技术研发人员:李辉,吴志强,朱大鹏,周芳魏,周超
技术所有人:湖北戈碧迦光电科技股份有限公司
备 注:该技术已申请专利,仅供学习研究,如用于商业用途,请联系技术所有人。
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