一种存储测试设备及其测试方法与流程

本发明涉及存储测试，特别涉及一种存储测试设备及其测试方法。

背景技术：

1、通用闪存存储（universal flash storage，ufs）因其高读写性能被广泛应用于手机以及其他高端移动通信设备。ufs设备的读写性能受到多种因素影响，例如读写缓存大小、闪存通信频率、ufs协议通信频率和存储设备的存储算法等等。对于通用闪存存储设备，读写缓存大小会影响到存储设备的数据处理逻辑。通用的编程算法并不能开发出存储硬件的全部性能潜能。而读写缓存大小不是标准参数，由于工艺影响和上游研发人员的设置，对于研发人员而言，读写缓存大小完全是黑盒状态。因此存储设备的数据处理逻辑往往对存储设备的读写性能开发不够。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种存储测试设备及其测试方法，能够准确获取存储设备的写缓存容量，从而提升存储设备的数据处理逻辑编程效率，并尽可能开发出存储设备的读写性能。

2、为解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的：

3、本发明提供了一种存储测试设备，包括：

4、数据写入模块，所述数据写入模块输出写命令，并将预设数据写入待测机；

5、解析模块，与所述待测机的反馈单元电性连接，在所述待测机完成写命令后，所述解析模块获取所述反馈单元的反馈信息，并解析所述反馈信息，所述解析模块输出所述待测机在当前写命令轮次的数据处理量；

6、掉电模块，电性连接于所述待测机的电源，在获得所述数据处理量后，所述掉电模块控制所述电源掉电再上电；

7、循环控制模块，所述循环控制模块中存储测试次数，在获得所述数据处理量后，所述循环控制模块循环调用所述数据写入模块、所述解析模块和所述掉电模块，直到所述写命令的轮次达到所述测试次数；以及

8、统计模块，根据所述预设数据的写命令轮次和所述待测机的数据处理量，所述统计模块输出所述待测机的容量概率分布曲线。

9、在本发明一实施例中，所述存储测试设备包括多个存储单元，部分所述存储单元被划分为数组存储单元，其中所述数组存储单元中存储统计数组，所述统计数组中存储所述存储测试设备的写命令轮次，以及当前所述写命令轮次下所述待测机的数据处理量。

10、在本发明一实施例中，所述存储测试设备包括数据记录模块，所述数据记录模块电性连接于所述数据写入模块，并记录所述数据写入模块输出所述写命令的次数，作为所述循环控制模块的写命令轮次。

11、本发明提供了一种存储测试设备的测试方法，包括以下步骤：

12、生成写命令，将预设数据写入待测机；

13、在所述待测机完成写命令后，从所述待测机中获取并解析反馈信息，获取所述待测机的数据处理量；

14、设置测试次数，对所述待测机断电再上电，循环所述预设数据的写入步骤和所述数据处理量的获取步骤，直到所述写命令的轮次达到所述测试次数；以及

15、根据所述预设数据的写命令轮次和所述待测机的数据处理量，制作所述待测机的容量概率分布曲线。

16、在本发明一实施例中，包括以下步骤：在测试开始前，设置所述预设数据，所述预设数据的大小为测试值，其中所述测试值为预设数值。

17、在本发明一实施例中，写入所述预设数据的步骤包括：随着写命令轮次的递增，所述预设数据的大小递增。

18、在本发明一实施例中，所述存储测试设备中存储统计数组，所述存储测试设备的测试方法包括以下步骤：

19、在测试开始前，设置统计数组；

20、在生成所述写命令后，将所述存储测试设备的写命令轮次记录在所述统计数组中；

21、在获得所述待测机的数据处理量后，将所述待测机的数据处理量记录在所述统计数组中，并在所述待测机的数据处理量和当前写命令轮次间建立关联。

22、在本发明一实施例中，在制作所述容量概率分布曲线的步骤中，以所述写命令轮次作为横坐标，以当前写命令轮次下所述待测机的数据处理量作为纵坐标，生成所述容量概率分布曲线。

23、在本发明一实施例中，所述存储测试设备的测试方法包括以下步骤：将所述容量概率分布曲线的最大数据处理量为所述待测机的写缓存容量。

24、在本发明一实施例中，所述存储测试设备的测试方法包括以下步骤：在测试开始前，对所述待测机断电，初始化所述待测机。

25、如上所述，本发明提供了一种存储测试设备及其测试方法，能够准确且高效地获取存储设备的写缓存容量，从而提升存储设备的数据处理逻辑编程效率，并尽可能开发出存储设备的读写性能。并且，本发明提供的存储测试设备及其测试方法能够对开发阶段、优化阶段和用户使用阶段等各种阶段，主机写和垃圾回收写等多种工况下的存储设备进行缓存容量测试。

26、当然，实施本发明的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。

1.一种存储测试设备，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种存储测试设备，其特征在于，所述存储测试设备包括多个存储单元，部分所述存储单元被划分为数组存储单元，其中所述数组存储单元中存储统计数组，所述统计数组中存储所述存储测试设备的写命令轮次，以及当前所述写命令轮次下所述待测机的数据处理量。

3.根据权利要求1所述的一种存储测试设备，其特征在于，所述存储测试设备包括数据记录模块，所述数据记录模块电性连接于所述数据写入模块，并记录所述数据写入模块输出所述写命令的次数，作为所述循环控制模块的写命令轮次。

4.一种存储测试设备的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

5.根据权利要求4所述的一种存储测试设备的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：在测试开始前，设置所述预设数据，所述预设数据的大小为测试值，其中所述测试值为预设数值。

6.根据权利要求4所述的一种存储测试设备的测试方法，其特征在于，写入所述预设数据的步骤包括：随着写命令轮次的递增，所述预设数据的大小递增。

7.根据权利要求4所述的一种存储测试设备的测试方法，其特征在于，所述存储测试设备中存储统计数组，所述存储测试设备的测试方法包括以下步骤：

8.根据权利要求4所述的一种存储测试设备的测试方法，其特征在于，在制作所述容量概率分布曲线的步骤中，以所述写命令轮次作为横坐标，以当前写命令轮次下所述待测机的数据处理量作为纵坐标，生成所述容量概率分布曲线。

9.根据权利要求8所述的一种存储测试设备的测试方法，其特征在于，所述存储测试设备的测试方法包括以下步骤：将所述容量概率分布曲线的最大数据处理量为所述待测机的写缓存容量。

10.根据权利要求4所述的一种存储测试设备的测试方法，其特征在于，所述存储测试设备的测试方法包括以下步骤：在测试开始前，对所述待测机断电，初始化所述待测机。