半导体产品良率的人工智能预测方法、系统、设备及介质与流程

1.一种半导体产品良率的人工智能预测方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的半导体产品良率的人工智能预测方法，其特征在于，采用如下步骤训练各个所述基于人工智能的良率预测模型：

3.根据权利要求1所述的半导体产品良率的人工智能预测方法，其特征在于，基于所述样本集数据训练多个基于人工智能的良率预测模型，得到多个收敛的基于人工智能的良率预测模型之后，还包括如下步骤：

4.根据权利要求1所述的半导体产品良率的人工智能预测方法，其特征在于，基于所述样本集数据训练多个基于人工智能的良率预测模型，得到多个收敛的基于人工智能的良率预测模型之后，还包括如下步骤：

5.根据权利要求4所述的半导体产品良率的人工智能预测方法，其特征在于，基于所述基于人工智能的最优人工智能模型得到最终输出预测良率，包括如下步骤：

6.根据权利要求1所述的半导体产品良率的人工智能预测方法，其特征在于，基于所述基于人工智能的最优人工智能模型得到最终输出预测良率之后，还包括如下步骤：

7.根据权利要求1所述的半导体产品良率的人工智能预测方法，其特征在于，所述采集半导体产品的样本集数据之后，还包括如下步骤：

8.一种半导体产品良率预测系统，其特征在于，包括权利要求1至7中任一项所述的半导体产品良率的人工智能预测方法，所述系统包括：

9.一种半导体产品良率预测设备，其特征在于，包括：

10.一种计算机可读存储介质，用于存储程序，其特征在于，所述程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的半导体产品良率的人工智能预测方法的步骤。