利用双稳态磁线进行物理量测量和/或位置测量的系统，测量方法与流程

1.一种利用双稳态磁线进行物理量测量和/或位置测量的系统，所述系统包括用于产生磁场的激励元件(2)，所述双稳态磁线(1)放置在所述磁场的范围内，所述激励元件具有第一端(11)和相对放置的第二端(12)，其中通过从所述第一端(11)到所述第二端(12)或从所述第二端(12)到所述第一端(11)的单次巴克豪森跳跃对所述双稳态磁线(1)进行磁化调整，并且所述系统还包括用于从所述双稳态磁线(1)接收响应的感测元件(3)，

2.根据权利要求1所述的利用双稳态磁线进行物理量测量和/或位置测量的系统，其特征在于，所述第一端(11)处和所述第二端(12)处的磁场的大小的差值为至少5％、优选地至少10％。

3.根据权利要求1或2所述的利用双稳态磁线进行物理量测量和/或位置测量的系统，其特征在于，所述系统适于测量温度和/或压力和/或张力和/或磁场和/或线性位置。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的利用双稳态磁线进行物理量测量和/或位置测量的系统，其特征在于，接收元件(3)的线圈与激励元件(2)的线圈分离。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的利用双稳态磁线进行物理量测量和/或位置测量的系统，其特征在于，所述双稳态磁线(1)的直径小于50gm、优选地小于25pm、特别优选地小于15pm。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的利用双稳态磁线进行物理量测量和/或位置测量的系统，其特征在于，所述双稳态磁线(1)覆盖有一层绝缘材料，优选地覆盖有一层玻璃。

7.根据权利要求6所述的利用双稳态磁线进行物理量测量和/或位置测量的系统，其特征在于，所述玻璃的厚度高达20pm。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的利用双稳态磁线进行物理量测量和/或位置测量的系统，其特征在于，所述双稳态磁线(1)的长度是所述双稳态磁线(1)的金属芯的直径的至少1000倍、优选地至少10,000倍。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的利用双稳态磁线进行物理量测量和/或位置测量的系统，其特征在于，所述激励元件(2)相对于所述双稳态磁线(1)的位置不对称放置。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的利用双稳态磁线进行物理量测量和/或位置测量的系统，其特征在于，所述激励元件(2)具有不对称结构，其端部处的磁场具有不同振幅。

11.根据权利要求10所述的利用双稳态磁线进行物理量测量和/或位置测量的系统，其特征在于，所述激励元件(2)由在其端部处具有不同缠绕密度的线圈形成。

12.根据权利要求1至11中任一项所述的利用双稳态磁线进行物理量测量和/或位置测量的系统，其特征在于，所述激励元件(2)的纵向轴线与所述双稳态磁线(1)的纵向轴线相同或平行，或者所述激励元件(2)的所述纵向轴线与所述双稳态磁线(1)的所述纵向轴线偏离30度以内。

13.一种利用双稳态磁线进行物理量测量和/或位置测量的方法，其中，激励元件(2)发射可变磁场，其中至少有一条双稳态磁线(1)放置在激励的所述磁场的范围内，所述双稳态磁线在所述磁场通过从第一端(11)到第二端(12)或者从所述第二端(12)到所述第一端(11)的单次巴克豪森前沿跳跃改变时被磁化，并且其中所述双稳态磁线(1)的响应随后被感测元件(3)感测到，其特征在于：所述激励元件(2)和所述双稳态磁线(1)保持在相互位置，其中所述激励元件(2)在所述第一端(11)处激励的磁场的大小不同于所述激励元件(2)在所述第二端(12)处激励的磁场的大小。

14.根据权利要求13所述的利用双稳态磁线进行物理量测量和/或位置测量的方法，其特征在于，所述激励磁场具有三角形形状、优选为对称三角形形状，并且评估所述双稳态磁线(1)的响应的局部最大值的时间t1和局部最小值的时间t2。

15.根据权利要求13或14所述的利用双稳态磁线进行物理量测量和/或位置测量的方法，其特征在于，所述激励磁场在一定区域中具有频率，在所述区域中，所述双稳态磁线(1)对于特定类型的测量量或测量位置具有至少一个局部最大灵敏度。

16.根据权利要求13至15中任一项所述的利用双稳态磁线进行物理量测量和/或位置测量的方法，其特征在于，当评估从所述双稳态磁线(1)接收的作为响应的信号时，评估所述信号的局部最大值的时间t1和局部最小值的时间t2的总和，优选地不考虑所述信号的绝对振幅。

17.根据权利要求16所述的利用双稳态磁线进行物理量测量和/或位置测量的方法，其特征在于，当评估从所述双稳态磁线(1)接收的作为响应的所述信号时，考虑所述信号的局部最小值的所述时间t2和局部最大值的时间t1的差。

18.根据权利要求13至17中任一项所述的利用双稳态磁线进行物理量测量和/或位置测量的方法，其特征在于，在控制单元(4)中评估所述感测元件(3)中截获的所述双稳态磁线(1)的响应。