一种面板漏制程缺陷检测方法、系统、设备及存储介质与流程

1.一种面板漏制程缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种面板漏制程缺陷检测方法，其特征在于，获取标准模板的流程如下：

3.根据权利要求1所述的一种面板漏制程缺陷检测方法，其特征在于，所述面板制程位置定位规则包括正常的面板图像中标准模板与参照线的相对距离的参数集合、参照线之间相对距离的参数集合、参照线与面板制程之间相对距离的参数集合。

4.根据权利要求3所述的一种面板漏制程缺陷检测方法，其特征在于，基于标准模板对待检测的面板图像进行参照线定位，以获取位于线路之间的参照线的流程如下：

5.根据权利要求4所述的一种面板漏制程缺陷检测方法，其特征在于，基于线路之间的参照线对待检测的面板图像进行面板制程定位，以获取面板制程位置信息的流程如下：

6.根据权利要求5所述的一种面板漏制程缺陷检测方法，其特征在于，基于面板制程位置信息获取面板制程轮廓和面板制程像素的流程如下：

7.根据权利要求6所述的一种面板漏制程缺陷检测方法，其特征在于，基于面板制程轮廓和面板制程像素对待检测的面板图像进行综合校验，以判定待检测的面板图像是否存在漏制程缺陷的流程如下：

8.根据权利要求7所述的一种面板漏制程缺陷检测方法，其特征在于，基于轮廓校验参数和像素校验参数对待检测的面板图像进行综合校验，以判定待检测的面板图像是否存在漏制程缺陷的流程如下：

9.一种面板漏制程缺陷检测系统，其特征在于，所述系统包括：

10.一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于：所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-8中任一项所述一种面板漏制程缺陷检测方法。

11.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-8中任一项所述一种面板漏制程缺陷检测方法。