一种检测方法及电子设备与流程

本申请涉及通信,更具体的说是涉及一种检测方法及电子设备。
背景技术:
1、随着电子设备的普及,电子设备的形态也呈现不同的变化,如可折叠电子设备在满足信息处理要求的同时,还可以使得电子设备更加便携。但是,在实际的应用场景中,受电子设备形态的切换会使得一些信息的处理存在误差,影响最终的处理结果。
技术实现思路
1、一种检测方法,应用于电子设备,所述电子设备包括布置于不同位置的多个传感器,所述检测方法包括:
2、确定所述电子设备处于第一形态,基于多个传感器的当前检测值和第一检测参数确定电子设备的目标使用状态;
3、确定所述电子设备由所述第一形态切换到第二形态,基于所述多个传感器的当前检测值和经校准的第二检测参数确定所述电子设备的目标使用状态,其中,所述经校准的第二检测参数相比所述第一检测参数能够消除所述电子设备的形态切换后所述多个传感器中至少部分传感器之间对当前检测值的相互影响。
4、可选地,还包括:响应电子设备由所述第一形态切换到第二形态,获得经校准的所述第二检测参数;
5、其中,所述获得经校准的所述第二检测参数包括:
6、配置对应传感器的至少部分检测值为初始值,以获得经校准的第二检测参数;
7、或调整所述第一检测参数中对应传感器的部分检测参数为初始值以获得所述经校准的第二检测参数;
8、和/或,调整所述第一检测参数中的用于表征传感器被触发检测电子设备的使用状态的第一阈值参数为第二阈值参数,以获得经校准的第二检测参数。
9、可选地,所述方法还包括:
10、确定多个传感器中的目标传感器;
11、响应于所述电子设备由所述第一形态切换到第二形态,不调整所述目标传感器对应的第一检测参数,以使得目标传感器的检测值满足目标条件时,在所述第一形态和所述第二形态均能处于触发状态。
12、可选地,所述方法还包括:
13、基于所述目标传感器生成第一检测通道和第二检测通道,所述第一检测通道和第二检测通道共享当前检测值;
14、其中,在所述电子设备处于第一形态下,所述第一检测通道基于所述当前检测值和第一检测阈值,确定所述电子设备的目标使用状态;在所述电子设备处于第二形态下,所述第二检测通道基于所述当前检测值和所述第二检测阈值,确定所述电子设备的目标使用状态。
15、可选地,所述目标传感器的检测值满足目标条件包括:
16、在目标时间段内所述目标传感器的当前检测值与所述第一检测参数之间的检测差值为递增趋势。
17、可选地,所述基于所述多个传感器的当前检测值和第一检测参数确定所述电子设备的目标使用状态,包括:
18、确定所述多个传感器的当前检测值与所述第一检测参数的第一检测差值;
19、若所述第一检测差值大于第一门限值,确定所述电子设备处于所述目标使用状态。
20、可选地,所述基于所述多个传感器的当前检测值和经校准的第二检测参数确定所述电子设备的目标使用状态,包括:
21、确定所述多个传感器的当前检测值和经校准的第二检测参数的第二检测差值;
22、若所述第二检测差值大于第二门限值,确定所述目标设备处于目标使用状态。
23、可选地,还包括:
24、若所述目标传感器的当前检测值与所述第一检测参数之间的检测差值为递增趋势,调整所述电子设备的天线模组的功率,以使得所述天线模组的功率与所述检测差值相匹配。
25、可选地,还包括:
26、在所述电子设备处于所述目标使用状态下,将所述电子设备的天线模组调整至目标功率。
27、一种电子设备,包括:
28、设置在电子设备上不同位置的多个传感器,以及处理器;
29、所述处理器用于执行如上述任意一项所述的检测方法。
技术特征:
1.一种检测方法,应用于电子设备,所述电子设备包括布置于不同位置的多个传感器,所述检测方法包括:
2.根据权利要求1所述的检测方法,还包括:响应所述电子设备由所述第一形态切换到第二形态,获得经校准的所述第二检测参数;
3.根据权利要求2所述的检测方法,所述方法还包括:
4.根据权利要求3所述的检测方法,所述方法还包括:
5.根据权利要求3所述的检测方法,所述目标传感器的检测值满足目标条件包括:
6.根据权利要求1所述的检测方法,所述基于所述多个传感器的当前检测值和第一检测参数确定所述电子设备的目标使用状态,包括:
7.根据权利要求1所述的检测方法,所述基于所述多个传感器的当前检测值和经校准的第二检测参数确定所述电子设备的目标使用状态,包括:
8.根据权利要求5所述的检测方法,还包括:
9.根据权利要求8所述的检测方法,还包括
10.一种电子设备,包括:
技术总结
本申请公开了一种检测方法及电子设备,该电子设备包括布置于不同位置的多个传感器,该检测方法包括:确定电子设备处于第一形态,基于多个传感器的当前检测值和第一检测参数确定电子设备的目标使用状态;确定电子设备由第一形态切换到第二形态,基于多个传感器的当前检测值和经校准的第二检测参数确定电子设备的目标使用状态,其中,经校准的第二检测参数相比第一检测参数能够消除电子设备的形态切换后多个传感器中至少部分传感器之间对当前检测值的相互影响量。
技术研发人员:张磊,路凯,张爱国
受保护的技术使用者:联想(北京)有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/12/10
技术研发人员:张磊,路凯,张爱国
技术所有人:联想(北京)有限公司
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