具有可重构传感器阵列的光学显微镜的制作方法
技术特征:
1.一种光学显微镜,包括
2.根据权利要求1所述的光学显微镜,其中
3.根据权利要求1所述的光学显微镜,其中
4.根据权利要求1所述的光学显微镜,还包括用于调节所述传感器阵列(60)上的检测光(15)的检测光斑尺寸(16)的可调光学元件(33、34),
5.根据权利要求1所述的光学显微镜,其中
6.根据权利要求1所述的光学显微镜,其中
7.根据权利要求1所述的光学显微镜,
8.根据权利要求7所述的光学显微镜,
9.根据权利要求7所述的光学显微镜,
10.根据权利要求1所述的光学显微镜,
11.根据权利要求1所述的光学显微镜,
12.根据权利要求1所述的光学显微镜,
13.根据权利要求7所述的光学显微镜,
14.根据权利要求7所述的光学显微镜,
15.根据权利要求14所述的光学显微镜,其中
16.根据权利要求1-15任一项所述的光学显微镜,其中
17.根据权利要求1-15任一项所述的光学显微镜,其中
18.根据权利要求1-15任一项所述的光学显微镜,其中
19.根据权利要求1所述的光学显微镜,其中
20.根据权利要求19所述的光学显微镜,其中
21.根据权利要求20所述的光学显微镜,其中
22.根据权利要求1-15任一项所述光学显微镜,其中
23.根据权利要求1-15任一项所述的光学显微镜,
24.一种光学检测器,包括
25.根据权利要求24所述的光检测器,其中
26.根据权利要求24或25所述的光检测器,其中
27.根据权利要求24或25所述的光检测器,还包括
28.一种成像方法,包括:
29.根据权利要求28所述的成像方法,还包括
30.根据权利要求28或29所述的成像方法,其中
技术总结
一种光学显微镜,包括用于照射样本(35)的光源(10)、由用于测量来自样本(35)的检测光(15)的光子计数检测器元件(61、62)组成的传感器阵列(60),以及用于控制传感器阵列(60)的控制设备(70)。控制设备(70)被配置为灵活地将光子计数检测器元件(62)合并读出一个或多个超像素(65)。
技术研发人员:蒂莫·安胡特,伊万·迈克尔·安托洛维奇,丹尼尔·施韦特,克劳迪奥·布鲁斯基尼,爱德华多·沙邦
受保护的技术使用者:卡尔蔡司显微镜有限责任公司
技术研发日:
技术公布日:2024/11/18
文档序号 :
【 40049479 】
技术研发人员:蒂莫·安胡特,伊万·迈克尔·安托洛维奇,丹尼尔·施韦特,克劳迪奥·布鲁斯基尼,爱德华多·沙邦
技术所有人:卡尔蔡司显微镜有限责任公司
备 注:该技术已申请专利,仅供学习研究,如用于商业用途,请联系技术所有人。
声 明 :此信息收集于网络,如果你是此专利的发明人不想本网站收录此信息请联系我们,我们会在第一时间删除
技术研发人员:蒂莫·安胡特,伊万·迈克尔·安托洛维奇,丹尼尔·施韦特,克劳迪奥·布鲁斯基尼,爱德华多·沙邦
技术所有人:卡尔蔡司显微镜有限责任公司
备 注:该技术已申请专利,仅供学习研究,如用于商业用途,请联系技术所有人。
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