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具有可重构传感器阵列的光学显微镜的制作方法

2025-07-01 11:00:01 373次浏览

技术特征:

1.一种光学显微镜,包括

2.根据权利要求1所述的光学显微镜,其中

3.根据权利要求1所述的光学显微镜,其中

4.根据权利要求1所述的光学显微镜,还包括用于调节所述传感器阵列(60)上的检测光(15)的检测光斑尺寸(16)的可调光学元件(33、34),

5.根据权利要求1所述的光学显微镜,其中

6.根据权利要求1所述的光学显微镜,其中

7.根据权利要求1所述的光学显微镜,

8.根据权利要求7所述的光学显微镜,

9.根据权利要求7所述的光学显微镜,

10.根据权利要求1所述的光学显微镜,

11.根据权利要求1所述的光学显微镜,

12.根据权利要求1所述的光学显微镜,

13.根据权利要求7所述的光学显微镜,

14.根据权利要求7所述的光学显微镜,

15.根据权利要求14所述的光学显微镜,其中

16.根据权利要求1-15任一项所述的光学显微镜,其中

17.根据权利要求1-15任一项所述的光学显微镜,其中

18.根据权利要求1-15任一项所述的光学显微镜,其中

19.根据权利要求1所述的光学显微镜,其中

20.根据权利要求19所述的光学显微镜,其中

21.根据权利要求20所述的光学显微镜,其中

22.根据权利要求1-15任一项所述光学显微镜,其中

23.根据权利要求1-15任一项所述的光学显微镜,

24.一种光学检测器,包括

25.根据权利要求24所述的光检测器,其中

26.根据权利要求24或25所述的光检测器,其中

27.根据权利要求24或25所述的光检测器,还包括

28.一种成像方法,包括:

29.根据权利要求28所述的成像方法,还包括

30.根据权利要求28或29所述的成像方法,其中


技术总结
一种光学显微镜,包括用于照射样本(35)的光源(10)、由用于测量来自样本(35)的检测光(15)的光子计数检测器元件(61、62)组成的传感器阵列(60),以及用于控制传感器阵列(60)的控制设备(70)。控制设备(70)被配置为灵活地将光子计数检测器元件(62)合并读出一个或多个超像素(65)。

技术研发人员:蒂莫·安胡特,伊万·迈克尔·安托洛维奇,丹尼尔·施韦特,克劳迪奥·布鲁斯基尼,爱德华多·沙邦
受保护的技术使用者:卡尔蔡司显微镜有限责任公司
技术研发日:
技术公布日:2024/11/18
文档序号 : 【 40049479 】

技术研发人员:蒂莫·安胡特,伊万·迈克尔·安托洛维奇,丹尼尔·施韦特,克劳迪奥·布鲁斯基尼,爱德华多·沙邦
技术所有人:卡尔蔡司显微镜有限责任公司

备 注:该技术已申请专利,仅供学习研究,如用于商业用途,请联系技术所有人。
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蒂莫·安胡特伊万·迈克尔·安托洛维奇丹尼尔·施韦特克劳迪奥·布鲁斯基尼爱德华多·沙邦卡尔蔡司显微镜有限责任公司
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