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一种断路器双金组件的检测方法、断路器的生产线

2025-11-29 10:20:02 508次浏览
一种断路器双金组件的检测方法、断路器的生产线

本发明专利涉及断路器的生产设备领域,尤其涉及一种断路器双金组件的检测方法。


背景技术:

1、小型断路器,又叫做空气开关,是一种常见的终端保护开关,具备短路保护、过载保护等相关的功能。它的过载保护功能,是利用过载时内部的双金属片受热后弯曲使操作机构解锁来实现的。

2、对于现有的小型断路器而言,它的全自动化生产并不少见。在全自动化生产过程中,它的双金属片、接线端子板、动触头、软连接、焊接片、跑弧道会焊接形成一个整体(也叫双金组件,如图1所示,它包含了双金属片1、动触头2,软连接3、接线端子板4、跑弧道6以及焊接片5,接线端子板4与焊接片5焊接固定,焊接片5与双金属片固定端的一面焊接,跑弧道6与双金属片固定端的另一面焊接,动触头2与软连接3的一端焊接,软连接3的另一端焊接在双金属片活动端的下方。

3、这种双金组件焊接好后会装入到载具上,运送到后方的装配工序中,安装在壳体上。直至所有组件安装好以后,再将整个产品铆接形成完整的产品,随后对整机再进行瞬时保护功能、过载保护功能(判断过载保护功能是否达标)等检测。

4、由于在双金组件的焊接点较多,就焊接工艺而言,并不能保证每次都焊接的非常完美,是有可能存在虚焊的情形发生的。虚焊通过肉眼或者图像识别是非常难检测出来的,但一旦发生虚焊,相当于回路的内阻增加,容易发热,因此会造成双金属片过早的弯曲,提早实现了过载保护功能。所以虚焊的发生,无疑会影响到产品的过载保护性能,降低产品的合格率。目前,现有的生产线是没办法有效识别双金组件的虚焊问题,它只能依靠整机完全装配好以后再来检测过载保护是否达标来判断。

5、这样对整机组装铆接以后再进行识别是极为不利的。如果只是偶然性的一次虚焊,倒并不会造成过多的资源浪费。但如果是非偶然性的虚焊(非偶然性的虚焊,包含的情形很多,例如因为焊接所需的电极发生磨损),就会导致批量的双金组件不达标,这个是否如果是在整机后时候才检测出来,无疑已经造成大量物料的浪费,还会造成大量“废工序”(这里的废工序指,完成拥有残次双金组件它的所有生产、装配工序都是无意义的),造成时间成本、资源成本的浪费。

6、综上所述,如何对现有的小型断路器的生产工艺进行优化,对于更加智能化的断路器自动化生产而言是非常有必要的。


技术实现思路

1、针对现有技术中存在的问题,本发明旨在提供一种断路器双金组件的检测方法、断路器的生产线,能够及时检测出双金组件是否合格,避免资源的浪费。

2、为实现上述目的,本发明公开了一种断路器双金组件的检测方法,其中,包括:

3、对载具中的待测双金组件通入模拟过载电流,并记录通入模拟过载电流的初始时间点sc;

4、在接收到微动开关的反馈信号时,记录反馈信号的时间点sz;

5、计算有效触发时间∆s,有效触发时间∆s=sz-sc;

6、判断有效触发时间∆s是否处于第一时间区间内,若未处于,认定待测双金组件为不合格组件,发出剔除指令予以剔除。

7、进一步地,微动开关处于载具内,布置在双金属片活动端的形变轨迹内;在双金组件通入模拟过载电流后,双金属片朝向微动开关弯曲形变。

8、进一步地,在通过模拟过载电流之前,还包括对双金属片初始位置是否达标的检测步骤;该检测步骤包括,对装有待测双金组件的载具进行图像检测,判断双金属片的活动端是否处于目标范围内,对未处于目标范围内的双金属片进行推压处理,使其活动端处于目标范围内。

9、进一步地,在待测双金组件中,双金属片的活动端与接线端子板的纵部之间形成第一夹角;判断活动端是否处于目标范围,就是指判断第一夹角是否处于170°-178°之间。

10、进一步地,第一时间区间包括时间下限值x1以及时间上限值x2,时间上限值x2不大于1.5倍的时间下限值x1;对于自初始时间点sc起,经过1.6倍的时间下限值x1后,仍未收到反馈信号的,认定该待测双金组件为不合格组件。

11、进一步地,在满足第一情形下,发出报警指令或向双金组件的生产设备发出暂停指令,第一情形为连续出现两次不合格组件的情形。

12、进一步地,在满足第二情形下,发出报警指令或向双金组件的生产设备发出暂停指令,第二情形为出现了两次不合格组件并且两次之间的间隔小于n的情形,10≥n≥4。

13、进一步地,在满足第三情形下,发出报警指令或向双金组件的生产设备发出暂停指令,第三情形为出现了自初始时间点sc起,经过1.6倍的时间下限值x1后仍未收到微动开关被触发的情形。

14、本发明还公开了一种断路器的生产线,其特征在于:

15、载具,用于承载待测双金组件,载具上具有微动开关,微动开关位于双金组件中双金属片的活动端的形变方向上;

16、过载电流模拟装置,它包含检测顶针以及信号顶针,检测顶针分别与待测双金组件的动触头以及接线端子板相抵,在接收测试指令后产生模拟过载电流;信号顶针与微动开关接线端相抵,微动开关的反馈信号经过载电流模拟装置反馈到主控制台;

17、剔除装置,在接收到剔除指令时剔除装有不合格双金组件的载具;

18、主控制台,用于控制过载电流模拟装置以及剔除装置;主控制台向过载电流模拟装置发出测试指令后,并记录通入模拟过载电流的初始时间点sc;主控制台,在接收到微动开关的反馈信号时,记录反馈信号的时间点sz;主控制台计算有效触发时间∆s,有效触发时间∆s=sz-sc;主控制台判断有效触发时间∆s是否处于第一时间区间内,若未处于,认定待测双金组件为不合格组件,发出剔除指令给剔除装置。

19、进一步地,还包括ccd视觉检测装置以及推压装置,ccd视觉检测装置、推压装置均受主控制台控制;在通过模拟过载电流之前,主控制台通过ccd视觉检测装置拍摄装有待测双金组件的载具的图像,并根据图像判断当前载具内双金属片的活动端是否处于目标范围内;对未处于目标范围内双金属片,主控制台驱使推压装置对双金属片进行推压,使其活动端处于目标范围内。

20、进一步地,在待测双金组件中,双金属片的活动端与接线端子板的纵部之间形成第一夹角;判断活动端是否处于目标范围,就是指判断第一夹角是否处于170°-178°之间。

21、进一步地,主控制台在满足第一情形下,发出报警指令或向双金组件的生产设备发出暂停指令,第一情形为连续出现两次不合格组件的情形。

22、进一步地,主控制台在满足第二情形下,发出报警指令或向双金组件的生产设备发出暂停指令,第二情形为出现了两次不合格组件并且两次之间的间隔小于n的情形,10≥n≥4。

23、进一步地,主控制台在满足第三情形下,发出报警指令或向双金组件的生产设备发出暂停指令,第一时间区间包括时间下限值x1以及时间上限值x2,时间上限值x2不大于1.5倍的时间下限值x1,第三情形为出现了自初始时间点sc起,经过1.6倍的时间下限值x1后仍未收到微动开关被触发的情形。

24、本发明的有益效果包括:

25、本发明提出的断路器双金组件的检测方法,第一,通过对双金组件通入模拟过载电流,利用触发微动开关来模拟过载保护动作,通过判断其触发微动开关的时间来确定是否达标,可以有效的提早识别出不合格的双金组件(例如因为虚焊导致的),尽早地剔除一些不合格的双金组件,避免不合格的双金组件对后续装配工序、其它断路器部件的浪费。第二,这样在双金组件的情况下,就检测出不合格产品,产线负责人可以根据不合格产品,提早判断产线是否存在问题,尽早介入维护工作。第三,这样的双金组件的合格检测,为实现更加智能化的断路器生产线提供了基础。

文档序号 : 【 40200628 】

技术研发人员:葛世伟,方初富,黄静,章涵博,阳丹红,俞明清,陈静
技术所有人:浙江理工大学

备 注:该技术已申请专利,仅供学习研究,如用于商业用途,请联系技术所有人。
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葛世伟方初富黄静章涵博阳丹红俞明清陈静浙江理工大学
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