一种C0G温度稳定型陶瓷介质材料及其制备方法
技术特征:
1.一种陶瓷介质材料,其特征在于,包含baco3和/或bao、nd2o3、bi2o3、tio2以及dy2o3或ho2o3或er2o3。
2.根据权利要求1所述的陶瓷介质材料,其特征在于,按摩尔百分比由以下原料制成:
3.根据权利要求1所述的陶瓷介质材料,其特征在于,按摩尔百分比由以下原料制成:
4.根据权利要求1-3任一项所述的陶瓷介质材料,其特征在于,所述陶瓷介质材料的介电常数为150~160;
5.一种制备陶瓷介质材料的方法,其特征在于,包括:
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述baco3和/或bao、nd2o3、bi2o3、tio2以及dy2o3或ho2o3或er2o3的摩尔比为(15摩尔%~16摩尔%):(2摩尔%~10摩尔%):(5摩尔%~10摩尔%):(55摩尔%~70摩尔%):(0.5摩尔%~5摩尔%);
7.根据权利要求5或6所述的方法,其特征在于,所述第一混合处理是通过球磨烘干的方式进行的;
8.根据权利要求5或6所述的方法,其特征在于,所述排胶处理的温度为500℃~600℃;
9.根据权利要求5或6所述的方法,其特征在于,所述烧结处理的温度为1200℃~1280℃;
10.权利要求1-4中任一项所述的陶瓷介质材料或根据权利要求5-9中任一项所述方法制备获得的陶瓷介质材料在通讯、雷达或电子领域中的应用。
技术总结
本发明提出了一种C0G温度稳定型陶瓷介质材料及其制备方法,具体地,本发明提出了一种陶瓷介质材料,其包含BaCO3和/或BaO、Nd2O3、Bi2O3、TiO2以及Dy2O3或Ho2O3或Er2O3。该材料具有高的介电常数,低的介电损耗以及高绝缘电阻。
技术研发人员:林元华,陈怡颖,戚俊磊,南策文
受保护的技术使用者:清华大学
技术研发日:
技术公布日:2024/12/2
文档序号 :
【 40200648 】
技术研发人员:林元华,陈怡颖,戚俊磊,南策文
技术所有人:清华大学
备 注:该技术已申请专利,仅供学习研究,如用于商业用途,请联系技术所有人。
声 明 :此信息收集于网络,如果你是此专利的发明人不想本网站收录此信息请联系我们,我们会在第一时间删除
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