一种磁簧开关缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质与流程

1.一种磁簧开关缺陷检测方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的磁簧开关缺陷检测方法，其特征在于，所述底座与所述定触片固定相连；所述动触片的一端与所述动触片簧片的一端固定后组成动触件，所述动触件设置于所述底座和所述定触片之间；所述动触片簧片的另一端设置在所述静触片与所述底座之间；所述静触片固定在所述定触片上。

3.根据权利要求1所述的磁簧开关缺陷检测方法，其特征在于，所述利用气压测试装置获取密封磁簧开关充气后的第一气压下降值与未密封磁簧开关充气后的第二气压下降值，包括：

4.根据权利要求3所述的磁簧开关缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述第一气压下降值与所述第二气压下降值，得到动触片簧片末端与静触片间的第一缝隙宽度与第二缝隙宽度，包括：

5.根据权利要求4所述的磁簧开关缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述第一缝隙宽度与所述第二缝隙宽度，通过预设触片距离公式，得到动触片簧片末端在预设高温测试温度下变形后的动触片到静触片的第一形变距离，包括：

6.根据权利要求1所述的磁簧开关缺陷检测方法，其特征在于，根据所述膨胀系数、所述第一缝隙宽度与所述第二缝隙宽度，通过动触片簧片的数量关系模型，得到定触片到所述底座之间的第二形变距离，包括：

7.根据权利要求1所述的磁簧开关缺陷检测方法，其特征在于，所述将所述动触片到静触片的距离、定触片到所述底座之间的距离分别与预设参考值进行对比，当所述第一形变距离与所述第二形变距离均大于所述距离参考值时，判定合格之后，还包括：

8.一种磁簧开关缺陷检测装置，其特征在于，包括：

9.一种电子设备，其特征在于，包括处理器、存储器以及存储在所述存储器中且被配置为由所述处理器执行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7中任意一项所述的磁簧开关缺陷检测方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质包括存储的计算机程序，其中，在所述计算机程序运行时控制所述计算机可读存储介质所在设备执行如权利要求1至7中任意一项所述的磁簧开关缺陷检测方法。