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金手指质量检测方法、装置、设备及介质与流程

2026-08-10 09:20:07 409次浏览

技术特征:

1.一种金手指质量检测方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的金手指质量检测方法,其特征在于,所述基于多样类的负样本集输入模型,对通道自注意力模块进行训练的步骤,包括:

3.根据权利要求2所述的金手指质量检测方法,其特征在于,所述预设数量包括两个;所述基于所述欧氏距离和余弦相似度构建损失函数的步骤,包括:

4.根据权利要求1所述的金手指质量检测方法,其特征在于,所述用训练好的孪生神经网络模型对待检测金手指图像进行缺陷检测,获得检测输出结果的步骤,包括:

5.根据权利要求1所述的金手指质量检测方法,其特征在于,所述基于检测输出结果,计算图像的缺陷置信度,并对缺陷区域进行定位和标记的步骤,包括:

6.根据权利要求5所述的金手指质量检测方法,其特征在于,所述根据检测输出结果,计算图像的缺陷置信度的步骤,包括:

7.一种金手指质量检测装置,其特征在于,包括:

8.根据权利要求7所述的一种金手指质量检测装置,其特征在于,所述训练模块,包括:

9.一种金手指质量检测设备,其特征在于,包括:

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的金手指质量检测方法。


技术总结
本申请涉及到金手指质量检测技术领域,公开了金手指质量检测方法、装置、设备及介质,其方法包括:构建包含卷积神经网络为骨干网络以及包含通道自注意模块的孪生神经网络模型;获取无缺陷的负样本集和有缺陷的正样本的图像数据;基于多样类的负样本集输入模型,对通道自注意力模块进行训练;用训练好的孪生神经网络模型对待检测金手指图像进行缺陷检测,获得检测输出结果;基于检测输出结果,计算图像的缺陷置信度,并对缺陷区域进行定位和标记。本申请能够在缺陷数据稀少的情况下达到高精度和高稳定性的金手指缺陷检测。

技术研发人员:茹彬鑫,季聪
受保护的技术使用者:深圳市识渊科技有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/12/2
文档序号 : 【 40201581 】

技术研发人员:茹彬鑫,季聪
技术所有人:深圳市识渊科技有限公司

备 注:该技术已申请专利,仅供学习研究,如用于商业用途,请联系技术所有人。
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茹彬鑫季聪深圳市识渊科技有限公司
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