一种原子尺度微观热导率的测量方法
技术特征：
1.一种原子尺度微观热导率的测量方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种原子尺度微观热导率的测量方法，其特征在于，
3.根据权利要求2所述的一种原子尺度微观热导率的测量方法，其特征在于，
4.根据权利要求1所述的一种原子尺度微观热导率的测量方法，其特征在于，
5.根据权利要求3所述的一种原子尺度微观热导率的测量方法，其特征在于，
6.根据权利要求5所述的一种原子尺度微观热导率的测量方法，其特征在于，
7.根据权利要求6所述的一种原子尺度微观热导率的测量方法，其特征在于，
8.根据权利要求1所述的一种原子尺度微观热导率的测量方法，其特征在于，
9.根据权利要求1所述的一种原子尺度微观热导率的测量方法，其特征在于，
技术总结
本发明提供一种原子尺度微观热导率的测量方法，基于聚焦离子束的样品制备方法以及基于扫描透射电子显微镜的电子能量损失谱，通过在扫描透射电子显微镜内对样品局部加热产生温度梯度，在电镜内通过电子能量损失谱测量温度，实现了在样品纳米尺度的区域内局部加热、构建稳定而具有巨大温度梯度的温度场，在空间上实现原子分辨的声子谱探测和温度测量。本发明方法可以实现在原子尺度测量局域温度信息，测量微观热导率的相对值，对样品内部不同位置各个结构的微观热导率进行定量分析，具有测量精确、空间分辨率高、可研究纳米尺度热输运和微区热导率等优点，适用于复杂结构和多种材料体系的样品。
技术研发人员：高鹏,刘法辰
受保护的技术使用者：北京大学
技术研发日：
技术公布日：2024/12/2
文档序号 :
【 40201634 】
技术研发人员：高鹏,刘法辰
技术所有人：北京大学
备 注：该技术已申请专利，仅供学习研究，如用于商业用途，请联系技术所有人。
声 明 ：此信息收集于网络，如果你是此专利的发明人不想本网站收录此信息请联系我们，我们会在第一时间删除
技术研发人员：高鹏,刘法辰
技术所有人：北京大学
备 注：该技术已申请专利，仅供学习研究，如用于商业用途，请联系技术所有人。
声 明 ：此信息收集于网络，如果你是此专利的发明人不想本网站收录此信息请联系我们，我们会在第一时间删除