一种适用于SiC模块寿命评估的结温数据点计算方法与流程

1.一种适用于sic模块寿命评估的结温数据点计算方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种适用于sic模块寿命评估的结温数据点计算方法，其特征在于，步骤s3中的δtjswingk和对应的nfk数据直接代入寿命曲线，计算出δtjswingk对模块造成的损伤；步骤s4中的tjcalk则用于雨流统计；设雨流统计后得到的结温变化和对应的频次分别为δtjcall和nfl，则将δtjcall和对应的nfl代入寿命曲线，计算出δtjcall对模块造成的损伤，将δtjswingk造成的损伤和δtjcall造成的损伤相加，得到总的损伤wtotal，则模块的寿命为1/wtotal。

3.根据权利要求2所述的一种适用于sic模块寿命评估的结温数据点计算方法，其特征在于，tjconv＝0.1。

4.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至3任一项所述适用于sic模块寿命评估的结温数据点计算方法的步骤。

5.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至3任一项所述适用于sic模块寿命评估的结温数据点计算方法的步骤。