一种电子整机级装备的加速因子评估方法与流程
技术特征：
1.一种电子整机级装备的加速因子评估方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种电子整机级装备的加速因子评估方法，其特征在于，在所述步骤s1中，根据所述电子整机的元器件在加速贮存试验后的数据来确定薄弱环节元器件。
3.根据权利要求2所述的一种电子整机级装备的加速因子评估方法，其特征在于，在所述步骤s1中，还包括对所述电子整机进行高温加速试验，再对所述电子整机的元器件进行性能分析，确定薄弱环节元器件。
4.根据权利要求1所述的一种电子整机级装备的加速因子评估方法，其特征在于，在所述步骤s2中，当所述薄弱环节元器件的贮存寿命分布类型为威布尔分布时，根据所述薄弱环节元器件的加速因子计算得到其在高温下的分布尺度参数其中所述薄弱环节元器件的加速因子的计算式为：
5.根据权利要求1所述的一种电子整机级装备的加速因子评估方法，其特征在于，在所述步骤s2中，当所述薄弱环节元器件的贮存寿命分布类型为正态对数分布时，根据所述薄弱环节元器件的加速因子计算得到所述薄弱环节元器件在高温下的分布尺度参数其中所述薄弱环节元器件的加速因子的计算式为：
6.根据权利要求1至5任一所述的一种电子整机级装备的加速因子评估方法，其特征在于，在所述步骤s3中，利用lindstrom-maddens法计算所述薄弱环节元器件在常温下特征寿命为l0时的可靠性置信下限，其具体步骤如下：
7.根据权利要求6所述的一种电子整机级装备的加速因子评估方法，其特征在于，在所述步骤s31中，所述lindstrom-maddens法所采用的关系式为：
8.根据权利要求7所述的一种电子整机级装备的加速因子评估方法，其特征在于，在所述步骤s31中，所述系统的等效试验失败次数的计算式为：
9.根据权利要求8所述的一种电子整机级装备的加速因子评估方法，其特征在于，在所述步骤s31中，将所述系统中各个所述薄弱环节元器件的等效试验次数从小到大排列，取最小的等效试验次数作为所述系统的等效试验次数。
10.根据权利要求9所述的一种电子整机级装备的加速因子评估方法，其特征在于，在所述步骤s32中，所述系统的等效试验失败次数与所述线性内插范围的第一个数据点和第二个数据点的关系式分别为：
技术总结
本发明涉及电子整机加速因子评估技术领域，更具体地，涉及一种电子整机级装备的加速因子评估方法，其包括以下步骤：S1：确定薄弱环节元器件；S2：计算元器件在高温下的贮存寿命分布类型、分布参数；S3：计算电子整机在常温下特征寿命为L<subgt;0</subgt;时的可靠性置信下限，再计算电子整机在高温下的特征寿命L<subgt;1</subgt;；S4：根据两个特征寿命的比值得到加速因子大小。本发明克服了现有技术需要花费大量时间对电子整机进行试验，造成较高的时间成本和试验成本，而且不一定能够通过有限时间的试验评估得到加速因子的不足，本发明可实现高可靠长贮存寿命电子整机产品的加速因子的评估，减少时间成本和试验成本的浪费。
技术研发人员：张晓瑾,王晓剑,林君健,候祎飞
受保护的技术使用者：广电计量检测集团股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/12/2
技术研发人员：张晓瑾,王晓剑,林君健,候祎飞
技术所有人：广电计量检测集团股份有限公司
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