PCB缺陷检测方法、系统、设备及存储介质

1.一种pcb缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的一种pcb缺陷检测方法，其特征在于，所述获取pcb数据集，对所述pcb数据集进行图像预处理和缺陷标注；具体如下：

3.根据权利要求1所述的一种pcb缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述yolov10模型进行轻量化处理的过程为：

4.根据权利要求1所述的一种pcb缺陷检测方法，其特征在于，所述空间到深度卷积spd_conv 模块包括一个space-to-depth层和一个non-strided convolution层；所述将空间到深度卷积spd_conv 模块优化为dspd模块，并将所述dspd模块配置到所述yolov10模型中，具体为：

5.根据权利要求4所述的一种pcb缺陷检测方法，其特征在于，所述dspd模块处理图像的过程如下，

6.根据权利要求1所述的一种pcb缺陷检测方法，其特征在于，所述将双向特征金字塔网络bifpn配置到所述dspd_yolov10模型的颈部网络中，具体为：

7.根据权利要求1所述的一种pcb缺陷检测方法，其特征在于，所述对训练结果进行评估中，评估指标包括召回率、精确度、平均精确度、平均精确度均值和帧率；

8.一种pcb缺陷检测系统，能够实现权利要求1-7任一项所述的一种pcb缺陷检测方法，其特征在于，所述系统包括：

9.一种电子设备，其特征在于，包括处理器，存储器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的程序或指令，所述程序或指令被所述处理器执行时实现如权利要求1-7所述的一种pcb缺陷检测方法的步骤。

10.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储程序或指令，所述程序或指令被处理器执行时实现如权利要求1-7所述的一种pcb缺陷检测方法的步骤。