电子元件几何尺寸数据提取方法、装置、设备及存储介质

1.一种电子元件几何尺寸数据提取方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取电子元件的pdf格式数据手册，包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述设定数据结构由多个第一元素组成，所述第一元素包括主体、引脚、边界框、标记和元信息，所提取的主体的尺寸数据及图形数据、引脚的尺寸数据和图形数据、标记的图像数据和坐标/尺寸、边界框的尺寸数据以及电子元件的厂家型号、封装或链接信息分别作为主体、引脚、边界框、标记和元信息的二级元素存储于所述设定数据结构中，以得到结构化数据。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于从所述pdf格式数据手册中提取的尺寸特征对所述电子元件的尺寸视图进行定位，包括：

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在基于从所述pdf格式数据手册中提取的尺寸特征对所述电子元件的尺寸视图进行定位之后，所述方法还包括；

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述引脚分布矩阵表示为；

7.一种电子元件几何尺寸数据提取装置，其特征在于，包括：

8.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器，以及与所述处理器通信连接的存储器；

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，所述计算机执行指令被处理器执行时用于实现如权利要求1-6中任一项所述的方法。

10.一种计算机程序产品，其特征在于，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-6中任一项所述的方法。