用于掠入射X射线散射表征的原位变温拉伸装置及测试方法

1.一种用于掠入射x射线散射表征的原位变温拉伸装置，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的用于掠入射x射线散射表征的原位变温拉伸装置，其特征在于，所述动力组件包括电机和丝杆，所述电机的输出端连接所述丝杆的一端，所述丝杆的另一端可转动地设置于端部支座，所述端部支座设置于所述底座上，所述第一平台支撑和第二平台支撑与所述丝杆连接。

3.如权利要求1所述的用于掠入射x射线散射表征的原位变温拉伸装置，其特征在于，还包括旋转平台，所述动力组件安装于所述底座的一侧，所述底座安装于所述旋转平台的上端，以在所述旋转平台的作用下转动。

4.如权利要求1所述的用于掠入射x射线散射表征的原位变温拉伸装置，其特征在于，所述薄膜样品包括基底以及沉积于所述基底上的功能薄膜，所述基底为弹性体薄膜。

5.如权利要求4所述的用于掠入射x射线散射表征的原位变温拉伸装置，其特征在于，所述弹性体薄膜包括但不限于聚硅氧烷类弹性体、热塑性聚氨酯弹性体、苯乙烯类热塑性弹性体、聚烯烃类热塑性弹性体、聚酰胺类热塑性弹性体中的一种。

6.如权利要求4所述的用于掠入射x射线散射表征的原位变温拉伸装置，其特征在于，所述功能薄膜包括但不限于共轭聚合物薄膜、聚烯烃聚合物薄膜、弹性体薄膜、具有延展性的金属薄膜中的一种。

7.一种用于掠入射x射线散射表征的原位变温拉伸方法，其特征在于，基于权利要求1至6中任一项所述的用于掠入射x射线散射表征的原位变温拉伸装置，所述检测方法包括：

8.如权利要求7所述的用于掠入射x射线散射表征的原位变温拉伸方法，其特征在于，通过如下方法制备薄膜样品：

9.如权利要求7所述的用于掠入射x射线散射表征的原位变温拉伸方法，其特征在于，利用x射线照射薄膜样品，设置拉伸应变和温度，得到不同应力场和/或不同温度场下的薄膜结构演变的原位信息，包括：

10.如权利要求9所述的用于掠入射x射线散射表征的原位变温拉伸方法，其特征在于，所述设定参数为：曝光时间1～600秒。