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一种电位测量装置、电位测量方法

2025-12-02 17:20:01 195次浏览

技术特征:

1.一种电位测量装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的电位测量装置,其特征在于,所述驱动模块(2),包括:信号发生器(21)、功率放大器(22)和音圈电机(23);

3.根据权利要求2所述的电位测量装置,其特征在于,所述探测模块(3),包括:支撑部件(31)、位移平台组件(32)、屏蔽组件(33)、探针(34);

4.根据权利要求3所述的电位测量装置,其特征在于,所述屏蔽组件(33),包括:屏蔽盒(331)、绝缘支撑杆(332)、锁紧螺母(333)、bnc接头(334)、探针自紧夹头(335);

5.根据权利要求3所述的电位测量装置,其特征在于,探针(34)末端直径在0.5μm以内,探针(34)与样品表面距离在100nm以内。

6.根据权利要求3所述的电位测量装置,其特征在于,所述位移平台组件(32),包括:位移平台控制器(321)、三轴位移平台(322);

7.根据权利要求1所述的电位测量装置,其特征在于,所述测量模块(4),包括:数据采集卡(41)、隔离型高压模块(42)和i/v跨阻放大器(43);

8.根据权利要求7所述的电位测量装置,其特征在于,所述隔离型高压模块(42),包括:电源输入端、控制信号输入端与高电压输出端子;

9.根据权利要求7所述的电位测量装置,其特征在于,所述i/v跨阻放大器(43)基于如下公式,计算所述输出电压

10.一种电位测量方法,其特征在于,包括:


技术总结
本发明提供一种电位测量装置、电位测量方法,其中,一种电位测量装置,包括:指令模块,用于向驱动模块、探测模块和测量模块发送控制数字信号指令,并对测量模块测得回路电流信号进行分析;驱动模块,用于基于所述控制数字信号指令驱动所述探测模块对待测样品进行探测;探测模块,用于与所述待测样品之间形成时变电容;测量模块,用于在所述探测模块上施加测量电压,基于所述时变电容形成回路电流,以分析所述待测样品的表面电位。通过探测模块与待测样品之间形成的时变电容,以及测量模块在探测模块上施加的测量电压来形成回路电流,能够精确地分析待测样品的表面电位。本发明具有分辨率高,能够用于微小尺度及复合材料表面电位的测量的优点。

技术研发人员:朱明晓,罗禄洋,任杰睿,徐学凯,何海龙
受保护的技术使用者:中国石油大学(华东)
技术研发日:
技术公布日:2024/11/21
文档序号 : 【 40071626 】

技术研发人员:朱明晓,罗禄洋,任杰睿,徐学凯,何海龙
技术所有人:中国石油大学(华东)

备 注:该技术已申请专利,仅供学习研究,如用于商业用途,请联系技术所有人。
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朱明晓罗禄洋任杰睿徐学凯何海龙中国石油大学(华东)
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