首页  专利技术  电子电路装置的制造及其应用技术

一种用于极性基团取向及演化的纳米红外测量方法及装置

2025-04-10 10:40:01 218次浏览

技术特征:

1.一种用于极性基团取向及演化的纳米红外测量方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述一种用于极性基团取向及演化的纳米红外测量方法,其特征在于,所述极性基团取向测量条件,其具体包括:

3.根据权利要求1所述一种用于极性基团取向及演化的纳米红外测量方法,其特征在于,所述基于所述第二振幅响应信号和所述第一电压信号的相位方向确定样品的极性基团取向这一步骤,其具体包括:

4.根据权利要求3所述一种用于极性基团取向及演化的纳米红外测量方法,其特征在于,所述基于所述相位差值确定样品的极性基团取向这一步骤,其具体包括:

5.一种用于极性基团取向及演化的纳米红外测量装置,应用于如权利要求1-4任一项所述一种用于极性基团取向及演化的纳米红外测量方法,其特征在于,包括信号发生模块和信号处理模块,其中:

6.根据权利要求5所述一种用于极性基团取向及演化的纳米红外测量装置,其特征在于,所述第一处理器和所述第二处理器包括锁相放大器和数据采集模块。

7.根据权利要求5所述一种用于极性基团取向及演化的纳米红外测量装置,其特征在于,所述第一处理器用于对偏转检测器的电信号进行滤波、解调处理,得到第一输出的振幅、相位信息;所述第二处理器用于对第一输出的振幅信息进行滤波、解调处理,得到第二输出的振幅、相位信息;所述第一比较电路用于对低频探针偏转和偏转设定值进行比较,得到第一误差;所述第二比较电路用于对探针振动相位和相位设定值进行比较,得到第二误差;所述第一pid增益控制电路用于根据第一误差调整扫描器的z轴方向伸缩量;


技术总结
本发明公开了一种用于极性基团取向及演化的纳米红外测量方法及装置,该方法包括:利用控制电路使探针尖端与样品接触,并维持稳定状态;基于激励脉冲照射样本表面,使样品和探针处于调谐共振状态;基于信号发生器产生第一电压信号,并作用在样品上;基于第二振幅响应信号和第一电压信号确定样品的极性基团取向;基于信号发生器产生第二电压信号,并作用在样品上;基于第三振幅响应信号和第二电压信号确定样品的极性基团演化结果。该装置包括信号发生模块和信号处理模块。通过本发明能够在纳米尺度上进行样本的化学基团取向及动态演化分析测量。本发明可广泛应用于纳米机械测量和光谱测量技术领域。

技术研发人员:张潇悦,姚松佑,姜赫,舒达,郑跃
受保护的技术使用者:中山大学
技术研发日:
技术公布日:2024/11/14
文档序号 : 【 40000029 】

技术研发人员:张潇悦,姚松佑,姜赫,舒达,郑跃
技术所有人:中山大学

备 注:该技术已申请专利,仅供学习研究,如用于商业用途,请联系技术所有人。
声 明此信息收集于网络,如果你是此专利的发明人不想本网站收录此信息请联系我们,我们会在第一时间删除
张潇悦姚松佑姜赫舒达郑跃中山大学
一种车辆极限碰撞距离的估计方法、装置及可读存储介质与流程 一种纳米硅改性树脂涂料及其制备方法与流程
相关内容